自上世纪50年代以来,随着微电子技术、通信技术及计算机网络技术的发展和大规模集成电路的广泛应用,电子设备数字电路故障维修越来越复杂,测试难度越来越大。与此同时,数字电路的测试与诊断研究也取得了突破性的进
自上世纪50年代以来,随着微电子技术、通信技术及计算机网络技术的发展和大规模集成电路的广泛应用,电子设备数字电路故障维修越来越复杂,测试难度越来越大。与此同时,数字电路的测试与诊断研究也取得了突破性的进
O 引 言 通常意义的的集成电路测试,只是施加测试以判断被测电路是否存在故障,并不对故障进行定位、确定故障类型、明确故障发生的根本原因。随着集成电路技术的飞速发展,对集成电路测试提出了更高的要求,必须