结构缺陷

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ADI公司的MEMS加速度计实现结构缺陷的早期检测

Analog Devices, Inc. (ADI)全球领先的半导体公司最近推出了三轴MEMS加速度计，能以极低的噪声执行高分辨率振动测量，可通过无线传感器网络实现结构缺陷的早期检测。最新ADXL354和ADXL355加速度计的低功耗性能可以延

模拟
2016-10-13

mems 结构缺陷早期检测