半导体设备的认证测试有许多不同类型和风格:电磁干扰和兼容性、静电放电、瞬态脉冲、抗振性、湿度和温度应力——不胜枚举。这些认证测试旨在进行真实且可重复的实验室实验,代表被测设备的应用环境。有些测试是独立的,有些是整个套件的一部分;无论哪种方式,在您的设备进入市场之前,都需要通过大量的测试。
1.线圈脉冲测试原理线圈脉冲测试原理图上图中: C1:储能电容 C2:谐振容量 Cp:线圈两端等效并联电容 R: 能量消耗等效并联电阻 Lx:线圈等效电感预先对储能电容C1充电,充电电压为仪器设定的最大电压,以一极
引言 纳米技术研究已深入到原子挨原子的分子级,构造具有全新特性的新结构。特别地,纳米电子领域的发展十分迅速,其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳米
由一个或多个线圈组合而成的电感器、变压器、马达等绕线元件,通常需要通过下列途径来完整地评估该线绕元件的品质情况:1、线圈之绕线电阻DCR(铜阻),绕线感量(L)圈数N、圈数比例(Np/Ns),线圈间容量(Cp),铁
在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里,低电平测量技术不仅对于器件的I-V特征分析而且对于高电导率材料的电阻测量都非常重要。
1工作原理本系统充分利用89C51单片机的控制和计算能力,采用MCS-51汇编语言,设计了一种基于平均功率法的微波脉冲测试系统。平均功率法测量的是射频脉冲复重周期的平均功率,并采用辅助方法测出脉冲的占空系数。设脉
1工作原理本系统充分利用89C51单片机的控制和计算能力,采用MCS-51汇编语言,设计了一种基于平均功率法的微波脉冲测试系统。平均功率法测量的是射频脉冲复重周期的平均功率,并采用辅助方法测出脉冲的占空系数。设脉
解决问题:脉冲I-V测试 ——纳米测试小技巧在对纳米器件进行电流-电压(I-V)脉冲特征分析时通常需要测量非常小的电压或电流,因为其中需要分别加载很小的电流或电压去控制功耗或者减少焦耳热效应。这里,
随着纳米技术日新月异的发展,研究已深入到原子挨原子的分子级,构造具有全新特性的新结构。特别地,纳米电子领域的发展十分迅速,其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳
随着纳米技术日新月异的发展,研究已深入到原子挨原子的分子级,构造具有全新特性的新结构。特别地,纳米电子领域的发展十分迅速,其潜在影响涉及非常宽的行业领域。目前的纳米电子研究的内容主要是如何开发利用碳纳