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基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析
引 言现代电子技术的高速发展对传统的电路测试技术提出了新的挑战。器件封装的小型化、表面贴装(SMT)技术的应用，以及由于板器件密度的加大而出现的多层印制板技术使得电路节点的物理可访问性逐步减低，原来借助于针
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基于边界扫描技术的混合信号测试系统
分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求．提出了一种基于微机的符合IEEEll49.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各
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美国ASSET成立边界扫描技术中心
美国ASSET InterTech宣布在上海市成立了边界扫描技术中心。边界扫描技术（IEEE 1149.1/JTAG）是将测试数据等读入芯片、从芯片中读出的技术。 最初该技术是作为封装芯片的测试方法而开发的，最近也开始用于LSI测试
