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2602新型测试仪器如何转换集成式的SMU
2602型双通道系统源表[1]复杂的DUT可能在测试夹具循环至下一个部件之前要求多次的源激励信号和进行相应的响应信号的测量。缩短测试时间的第一步可通过将单独功能的源－测量仪器转变为集成式的SMU获得。这将减少触发延
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2602新型测试仪器如何缩短测试时间
2602型双通道系统源表[1]可降低测试成本的重要参数在本文的前面，介绍过四个降低测试成本的关键因素：缩短测试时间、缩短开发时间、减少测试设备所占的面积和机架的空间大小以及降低系统的保有成本。每个因素都有许多
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2602新型测试仪器的多个测试系统类型
2602型双通道系统源表[1]并行I-V测试[2]系统――适用于复杂器件的多个DUT测试或多通道测试的系统。对此类DUT的测试，速度取决于仪器、应用程序以及在施加激励源后DUT达到稳定响应时所需的时间（过早的测量将产生错误
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2602新型测试仪器典型的设备结构有哪些
2602型双通道系统源表[1]典型的测试设备结构当我们在选择生产测试设备时，考虑前面提到的三大类系统是大有裨益的：u 单机/单通道I-V解决方案u 并行I-V测试系统u 可随意组合的多通道系统单机/单通道[2]I-V解决方案――
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2602新型测试仪器的测试应用与设备结构如何配合
2602型双通道系统源表[1]测试应用与设备结构的配合在面临这些挑战时，生产测试工程师必须彻底纵览ATE前景，寻找新的硬件结构和软件结构，从中找出满足其测试功能所需的最佳选择。当然，根据具体应用选择成本最节省的
