-
混合扫描测试解决方案的优势
扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG(自动测试向量生成)。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于进行分析并改进。
-
Mellanox选用Mentor阶层化ATPG方案进行千兆门设计
Mentor Graphics 公司宣布，Mellanox Technologies 已将全新的 Mentor Tessent 阶层化 ATPG 解决方案标准化，以管理复杂度及削减其先进的集成电路 (IC) 设计生成测试向量所需的成本。高品质的 IC 测试需要大量的制造测试向量，Mellanox 运用 Tessent 阶层化 ATPG，显著减少了生成这些测试向量所需的处理时间和系统内存。
-
混合扫描测试解决方案的优势
扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG(自动测试向量生成)。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于
-
混合扫描测试解决方案的优势
扫描测试是测试集成电路的标准方法。绝大部分集成电路生产测试是基于利用扫描逻辑的 ATPG(自动测试向量生成)。扫描 ATPG 是一项成熟的技术，特点是结果的可预测性高并且效果不错。它还能实现精确的缺陷诊断，有助于
-
明导：转向使用即插即用的分层 DFT 的好处
Mentor Graphics近日发布一份题为《转向使用即插即用的分层 DFT 的好处》的研究报告。一、背景传统的全芯片 ATPG 正日渐衰退，对于许多现有的和未来的集成芯片器件来说，一项主要挑战就是如何为庞大数量的设计创建测
-
低功耗制造测试的设计
关键字：低功耗 制造测试完全的数字电路测试方法通常能将动态功耗提高到远超出其规范定义的范围。如果功耗足够大，将导致晶圆检测或预老化(pre-burn-in)封装测试失效，而这需要花大量的时间和精力去调试。当在角落条
-
生产制造中的低功耗测试方法
受无线和高功效器件的普及以及提供“绿色”电子系统的需求驱动，设计师越来越多地采用低功率设计来应对越来越艰巨的功能性功耗挑战。直到最近，管理制造测试过程中的功率问题已经成为第二大备受业界关注的要求。但随
