本次复享光学承担的项目,属于“科学仪器研制开发”专题项目。该项目基于共焦拉曼光谱,发展面向GAA-FET制程检测的拉曼光谱技术,探索在GAA-FET制备过程中多层纳米薄膜的厚度、应力、界面起伏、横向刻蚀和沟道载流子迁移率等关键参数的量测技术,形成一套具有重大产业应用前景的专业高端拉曼光谱设备。
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