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一种用于测试电容的电路
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试，从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，CREF的值接近于待测电容值CX。另外也可以用旋转切换的方法选择RREF，使之大于或小于22 MΩ。
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试，从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，CREF的值接近于待测电容值CX。另外也可以用旋转切换的方法选择RREF，使之大于或小于22 MΩ。
