错误处理不太可能成为任何用于嵌入式系统应用的操作系统的主要功能。这是资源限制的必然结果——所有嵌入式系统都有某种限制。这也是合乎逻辑的,因为只有有限数量的嵌入式系统有机会像桌面系统一样运行——即为用户提供在发生某些异常事件时决定下一步做什么的机会。
对于在温度稳定但平均温度不为 25°C 的环境中运行的应用,可以使用带有校准寄存器的实时时钟 (RTC) 来校正时间。其概念是从时钟计数器中增加或减去计数以加快或减慢时钟。校正时间所需的正计数或负计数量可以使用晶体供应商提供的晶体频率公式来计算。
实时时钟 (RTC) 从来都不是系统中引人注目的组件。事实上,许多工程师不明白为什么需要 RTC。他们可能认为这是一个非常简单的设备,只是跟踪时间;此外,如今大多数微控制器都内置有 RTC 外设。
大间隙功率转换器由于其固有的空间和尺寸有限、所需的高检测速度和高检测率,使开发单一的电流传感器方案变得困难。在匹配所有需求方面的不同权衡使得很难实现一种适用于所有情况的电流感知方法。研究了改进现有单方案电流传感器性能的方法。
随着高速模拟数字转换器(ADCS)的采样率的提高,ADC输出数据中的编码错误(也被称为闪烁码)也随之增加。代码错误定义为ADC输出代码中超过定义阈值的错误。阈值通常被定义为一个误差超过ADC噪声的预期幅值,从而在噪音存在的情况下可以很容易地识别该误差的水平。
更新并不总是必要的,但是很难想出有哪些软件没有在某个时候发现的错误。即使您的软件是完美的,如果设备在网络上或互联网上与任何开源库进行通信,安全更新也可能成为必需品。
这个更新系统感觉非常专业和可用的盒子.它使用了一个与前一篇文章中描述的非常相似的双根文件更新系统。它与U-脚紧密结合,以允许在非引导图像的情况下返回。
机器人系统自动执行重复性任务,执行复杂或耗电的运动,并且可以在对人类危险或有害的环境中执行任务。更高集成度、更高性能的微控制器(MCU)可提高能效,并以更高的精度实现更平稳、更安全的操作,从而提高生产率和自动化程度。例如,在涉及激光焊接、精密喷漆、喷墨打印和3D打印的应用中, 0.1 毫米以内的精度有时至关重要。
近年来,碳化硅 (SiC) 场效应晶体管 (FET) 在牵引逆变器设计中的使用显着增加。其主要原因是 SiC FET 可以在高开关频率下工作,从而在保持高效率的同时提高功率密度。另一方面,SiC 逆变器可以产生大于 100V/ns 的大瞬态电压 (dv/dt) 信号,引发人们对共模瞬态电压抗扰度 (CMTI) 的担忧。这在设计逆变器栅极驱动器的隔离偏置电源时提出了新的挑战。
驱动模拟数字转换器 (ADC) 以获得最佳混合信号性能是一项设计挑战。图 1 显示了标准 ADC 驱动器电路。在 ADC 采集时间内,采样电容器将呈指数衰减的电压和电流反冲到 RC 滤波器中。混合信号 ADC 驱动器电路的最佳性能取决于多个变量。驱动器的稳定时间、RC 滤波器的时间常数、驱动阻抗和 ADC 采样电容器的反冲电流在采集时间内相互作用并产生采样误差。采样误差会随着 ADC 位数、输入频率和采样频率的增加而增加。
Agile development 敏捷发展 已成为在一个一切都在变化的环境中确保高质量软件快速生产的公认方式。该系统依赖于所谓的嵌入式自动化实践,这保证了测试和质量保证与快速敏捷周期保持同步。这篇文章调查了冲刺自动化的能力,如何在它上取得成功,以及在它的实现过程中你需要做些什么来获得最佳的结果,这样团队就可以提高生产率,同时实现更高的质量。
在嵌入式Linux系统的开发中,RootFS(根文件系统)的制作是至关重要的一步。RootFS包含了系统启动和运行所必需的基本文件和目录结构,是系统启动后挂载的第一个文件系统。本文将详细介绍如何制作一个适用于嵌入式Linux系统的RootFS,并包含部分关键代码示例。
在软件开发过程中,遇到难以复现的Bug是常有的事。这类Bug不仅让开发人员头疼不已,也极大地影响了软件的质量和稳定性。堆栈分析作为一种强大的调试手段,在解决这类问题时显得尤为重要。本文将通过实战案例,详细介绍如何使用堆栈分析来定位和解决难以复现的Bug。
随着物联网和智能设备的快速发展,微控制器单元(MCU)作为嵌入式系统的核心,其性能和灵活性成为了关键要素。为了应对日益复杂的应用场景,借鉴Linux的分层架构思想,设计并实现一个通用的MCU框架显得尤为重要。本文将探讨如何通过仿Linux分层架构来构建一个高效、灵活且易于扩展的MCU通用框架。
在设计中放置天线总是需要小心,但是当设计中有两个或更多天线时,更重要的是了解天线是如何辐射的,它们将如何一起工作,它们的相对位置将如何影响信号。