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加速测试为LED招标补贴的落实提速——LED照明产品可靠性测试方法研讨会在京召开
2012年5月30日，半导体照明联合创新国家重点实验室(筹)(以下简称重点实验室)重点项目之一的“LED照明产品可靠性测试方法”研讨会在北京召开，会议邀请了国内在电子产品检测方面具有多年研究基础的机构及LED照明领域具
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加速测试为LED招标补贴的落实提速
2012年5月30日，半导体照明联合创新国家重点实验室(筹)(以下简称重点实验室)重点项目之一的“LED照明产品可靠性测试方法”研讨会在北京召开，会议邀请了国内在电子产品检测方面具有多年研究基础的机构及LED照明领
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自蔓延高温合成实验压力与燃烧速率测试方法研究
摘要：自蔓延高温合成技术是利用原料在初始点燃条件下化学反应所产生的高温高热，使燃烧反应自发地进行，从而得到新的成分和结构的产物。通过对自蔓延高温合成实验压力和燃烧速率测试方法的研究，根据实验的要求，选
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发光二极管光谱参数测试方法的研究
1 引言LED(发光二极管)由于其光强高、功耗低、寿命长、可靠性高、易驱动、易与IC相衔接等特点,已被广泛用于交通、商业广告和仪器仪表显示中。而LED的颜色是影响各种显示效果的一种关键因素,决定LED颜色的则是它的波长
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一种道路照明照度测试方法和数据处理系统
半导体发光二极管(LED)作为一种新型光源[1]，与传统光源相比具有很多优点，例如体积小、重量轻、节省空间、光谱范围广、易于设计、能耗低等，而且可靠性好、寿命长，有着广阔的发展前景[2]。随着国家城市建设进程的加
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一种道路照明照度测试方法和数据处理系统
半导体发光二极管(LED)作为一种新型光源[1]，与传统光源相比具有很多优点，例如体积小、重量轻、节省空间、光谱范围广、易于设计、能耗低等，而且可靠性好、寿命长，有着广阔的发展前景[2]。随着国家城市建设进程的加
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基于TMSF240芯片的内部FLASH的一种自测试方法
摘要：飞控计算机作为飞行控制系统的核心控制处理单元，其可靠性要求是所有航空电子设备中最高的，用于飞控计算机的每一个元器件都必须经过严格的自测试。随着DSP越来越广泛应用于飞控系统，对于芯片内部FLASH的自测
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光纤传输通道测试方法介绍
计算机网络结构化综合布线系统(StructuredCablingSystem，SCS)是美国贝尔实验室专家们经过多年研究推出的基于星形拓朴结构的模块系统，也是目前局域网建设首选的系统。该系统具有实用、灵活、经济、可模块化和可扩充
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基于TMSF240芯片的内部FLASH的一种自测试方法
摘要：飞控计算机作为飞行控制系统的核心控制处理单元，其可靠性要求是所有航空电子设备中最高的，用于飞控计算机的每一个元器件都必须经过严格的自测试。随着DSP越来越广泛应用于飞控系统，对于芯片内部FLASH的自测
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基调网络第三方视角解读宽带测速标准
近期，工信部公示《固定宽带接入速率测试方法》（报批稿），从测试宽带接入速率对设备的要求、测试方法，以及对数据的处理方法等方面，提出了规范和标准。自去年年底，DCCI发布《中国宽带用户调查》，“假宽带&
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信号完整性的测试方法介绍
信号完整性的测试手段很多，涉及的仪器也很多，因此熟悉各种测试手段的特点，以及根据测试对象的特性和要求，选用适当的测试手段，对于选择方案、验证效果、解决问题等硬件开发活动，都能够大大提高效率，起到事半功
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USB3.0的物理层接收端的测试方法（二）
USB简介USB(UniversalSerialBus)即通用串行总线，用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机，它使计算机与周边设备的接口标准化，从2000年以后，支持USB2.0版本的计算机和设备已
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USB3.0的物理层接收端的测试方法(一)
USB3.0的Receiver测试的两种方法由于USB3.0的速率高达5Gbps，在USB3.0规范中接收机测试成为必测项目。接收机测试包括了误码率测试和接收机抖动容限测试两部分。对于ReceiverCompliance测试，需要使用误码率测试仪BER
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USB3.0的物理层接收端的测试方法（二）
USB简介USB(UniversalSerialBus)即通用串行总线，用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机，它使计算机与周边设备的接口标准化，从2000年以后，支持USB2.0版本的计算机和设备已
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USB3.0的物理层接收端的测试方法(一)
USB3.0的Receiver测试的两种方法由于USB3.0的速率高达5Gbps，在USB3.0规范中接收机测试成为必测项目。接收机测试包括了误码率测试和接收机抖动容限测试两部分。对于ReceiverCompliance测试，需要使用误码率测试仪BER
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一种低成本高效测试方法——合成测试系统
传统测试系统通常将一些台式仪器或特定仪器模块组装在机架上，构成“机架堆叠”式测试系统，这种测试系统的局限性在于它们一般用来对一个元件、一个模块或一个子系统进行测试，而没有足够的能力支持对大范
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一种低成本高效测试方法——合成测试系统
传统测试系统通常将一些台式仪器或特定仪器模块组装在机架上，构成“机架堆叠”式测试系统，这种测试系统的局限性在于它们一般用来对一个元件、一个模块或一个子系统进行测试，而没有足够的能力支持对大范
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衰落及其测试方法介绍
一、 衰落 衰落从范围上来讲，大体分为三种情况：大区域衰落，小区域衰落和室内衰落。如图1所示，大区域衰落指的是信号在长距离(几百个波长以上)传播时的平均衰减，主要由大气损耗，建筑物或大的物体如山丘、树木
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基于最新的LED测试方法的LED光电特性的测试方案
一、引言 LED光电测试是检验LED光电性能的重要而且唯一的手段，相应的测试结果是评价和反映当前我国LED产业发展水平的依据。制定LED光电测试方法的标准是统一衡量LED产品光电性能的重要途径，是使测试结果真实反映
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一种创新的晶圆级热载子并行测试方法
引言 随着VLSI集成度的日益提高，MOS器件尺寸不断缩小至亚微米乃至深亚微米，热载子效应已成为最严重的可靠性问题之一。现今,为了降低成本,减少周期,不断的提高工艺,晶圆级的器件可靠性测试愈来愈被广泛的应用。纵观
