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【“源”察秋毫系列】多次循环双脉冲测试应用助力功率器件研究及性能评估
多次循环双脉冲测试技术应运而生，为功率器件的可靠性研究和性能评估提供了一种有效的手段。这种测试方法通过模拟电路中的实际工作条件，能够评估功率器件在重复高应力条件下的性能变化，预测其寿命，对于器件的长期稳定性和可靠性至关重要。
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泰克推出突破性功率测量工具，从容应对全球电气化加速创新步伐
新产品系列包括业界领先的射频隔离电流探头和三通道双向电源。
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【“源”察秋毫系列】下一代半导体氧化镓器件光电探测器应用与测试
Tektronix提供多种性能、架构的测试仪器仪表，满足探测器在不同极限维度下测试的需求。
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【“源”察秋毫系列】Keithley在基于钙钛矿体系的粒子射线探测中的应用
Tektronix/Keithley提供了专业高精度的电测仪器，广泛的应用于钙钛矿体系的研究中。
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用Python自动化双脉冲测试
本应用说明介绍了一个Python脚本示例，该脚本利用示波器和函数发生器的内置双脉冲测试功能，自动执行双脉冲测试。演示脚本以一个工作框架的形式呈现，供寻求实现DPT自动化的工程师使用，并可通过泰克GitHub获取。
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开启TekHSI高速接口功能，加速波形数据远程传输
自v2.10版本开始TekScope软件及泰克示波器（如4B系列MSO）引入了TekHSI高速接口技术，利用该项技术您可以以最高比SCPI快10倍的速度传输波形。这是因为SCPI标准的Curve和Curvestream的性能取决于仪器的具体实现，而TekHSI已经过优化，专为高性能和可扩展性而设计。TekHSI采用了优化的二进制协议，专用于高速数据传输。
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【“源”察秋毫系列】Keithley在碳纳米管森林涂层纤维复合材料的应用
泰克吉时利作为小信号领域的测试专家，提供丰富的产品助力碳纳米管复合材料的研究。
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【“源”察秋毫系列】柔性可穿戴电子设备材料的导电测试
柔性可穿戴电子设备主要由柔性压阻传感器材料、柔性传感器框架、电极连接、信号采集和处理电路组成。其中最重要的部分就是对柔性压阻传感器材料的测试，对于用于制造压阻式传感器的材料，需要全面评估其电学、机械、动态响应和环境稳定性等多方面性能指标，以确保材料能够满足实际应用的需求。
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【泰克先进半导体实验室】远山半导体发布新一代高压氮化镓功率器件
远山半导体最近发布了新一代高压氮化镓功率器件，并在泰克先进半导体实验室进行了详尽的测试，这些测试结果为我们提供了对远山半导体氮化镓功率器件性能的全面了解。
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MSO 4 B示波器为工程师带来更多台式功率分析工具
泰克4 B系列MSO示波器提升了电源和电机驱动器的分析处理能力和速度，所用软件让工程师能够进行速度更快、更可重复的测量。
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没有优质探头，示波器ADC分辨率再高也无意义
虽然示波器分辨率是影响信号测量的一个重要因素，但并不是唯一的考虑因素。
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【测试案例分享】提高信号完整性的秘密武器：实时示波器测试TDR阻抗的全新方案
TDR（时域反射技术）是一种通过观察传输线中反射信号来测量阻抗特性的技术。这种方法的优势在于能够快速、准确地检测出传输线中的不连续点，如阻抗不匹配、开路和短路等。对于高速电路设计而言，TDR已成为必不可少的工具。
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“源”察秋毫，基于纳米发电机的高熵能源微弱信号测试
基于纳米发电机的高熵能源可以很好实现能源的供给。未来，在能源互联网、智能电网、物联网、互联网、生物医学、无线通信和无线传感等领域，纳米发电机都将有更广泛应用。
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【PSIJ测试应用方案】探索PSIJ之谜——由电源引起的高速信号抖动
PSIJ（Power Supply Induced Jitter）是指由电源因素导致的信号中抖动。这种抖动可能导致信号失真、数据传输错误，甚至影响整个系统的可靠性和性能。
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【测试案例分享】如何评估热载流子引导的MOSFET衰退
本文说明描述了如何在Keithley 4200-SCS（半导体表征系统）中使用这些关键功能来执行热载流子退化测试。
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PCI Express发射器一致性/调试解决方案
PCI-SIG 6.0规范引入了PAM4信号，旨在在保持NRZ信号向后兼容的同时实现64GT/s。多级（PAM4）方法为采用者和验证团队带来了新的信号完整性挑战。Tektronix的PCI Express 6.0软件通过自动化测试来减少这种新复杂性，确保测量的准确性和可重复性。
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泰克先进半导体实验室：量芯微1200V氮化镓器件的突破性测试
在泰克先进半导体开放实验室，2024年8月份，我们有幸见证了量芯微（GaN Power）新一代1200V氮化镓（GaN）功率器件的动态参数测试。量芯微作为全球首家成功流片并量产1200V氮化镓功率器件的厂商，其最新产品在性能上的显著提升，不仅展现了技术的进步，也为我们的客户带来了新的解决方案。
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借助1.5GHz TAP1500L探头增强飞针测试仪
泰克公司将其标准电缆延长到原来的5倍以上，解决了一个关键痛点。
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探究3700A智能化失效分析的高效之道
最新的3700A系列继承了370A/370B系列的易操作和快分析功能，同时改进了数据存储调用系统，从而协助泰克科技战略合作伙伴芯源系统（MPS）更智能高效完成失效分析，提高其客户的满意度。
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从半导体自动化测试撬动更广泛应用场景，ADI多款创新方案树立电子测试测量技术标杆
“工欲善其事，必先利其器”。科学史上的许多重大突破，往往源于新的观测手段和测量技术的进步。在现代电子工业中，半导体器件作为核心组件，其性能和可靠性直接决定了最终产品的品质和功能，对这些器件进行精确全面的测试测量变得尤为重要。近日在行业重磅展会上，全球领先的半导体公司ADI在现场带来了仪器仪表应用领域的一系列创新方案，如ADI仪器仪表事业部高级市场经理姜海涛所表示，这些板卡级方案以高精度、小型化以及易于集成的优势，契合客户痛点，是新时代电子测试测量的标杆样本。
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