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TDA6103Q的具有反馈因数1／150的测试电路图
如图所示为TDA6103Q的具有反馈因数1／150的测试电路。输入信号Vi1、Vi2、Vi3经过由电阻与电容组成的输入网络进入TDA6103Q的1、2、3脚，1、2、3脚与5脚分别是内部差分输入级的反相输入端和同相输入端。放大后的信号分
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TDA6106Q的具有反馈因数1／116的测试电路图
如图所示为TDA6106Q的具有反馈因数1／116的测试电路。输入信号Vin经过由R1、C1、C2、R9组成的输入网络进入TDA6106Q的3脚，3脚是内部差分输入级的反相输入端。放大后的信号从8脚输出，经过由R2、R3、C7、C8、C9组成的
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TDA6108JF的测试电路图
如图所示为TDA6108JF的测试电路。输入信号Vi1、Vi2、Vi3经过由电容组成的输入网络进入TDA6108JF的1、2、3脚，1、2、3脚是内部差分输入级的反相输入端，放大后的信号分别从9、8、7脚输出，经过各自的输出网络去探针1至
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TDA6120Q的具有反馈因数1／83的测试电路图
如图所示为TDA6120Q的具有反馈因数1／83的测试电路。输入信号Vi经由Ra、C10、C11组成的输入网络进入TDA6120Q的2脚，2脚与4脚分别是内部差分输入级的反相输入端和同相输入端，放大后的信号从12脚输出，经过由Rflash、
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TDA8350Q的测试电路图
如图所示为TDA8350Q的测试电路，该电路是在推挽功率放大器输出端用电阻作为假负载替代偏转线圈进行测试。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=newY;
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TDA8351／8356的测试电路图
如图所示为为TDA8351／8356的测试电路。该测试电路是在推挽功率放大器输出端用电阻作为假负载替代偏转线圈进行测试。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=
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TDA8357J／8359J的测试电路图
如图所示为TDA8357J／8359J的测试电路。该电路是在推挽功率放大器输出端用电阻作为假负载替代偏转线圈进行测试。 function resizeImage(evt,obj){ newX=evt.x; newY=evt.y; obj.width=newX; obj.height=newY
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简易晶振测试电路
本文介绍一款简单易作的晶振测试装置，原理电路如附图所示。 图中，V1及其外围元件（包括被测晶振）共同组成一个电容三点式振荡器。当探头X1、X2两端接入被测晶振时，电路振荡。振荡信号经V2射极跟随级放大后输出，经
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555构成的多路温度测试电路
如图所示为多路温度测试电路。该测试电路主要由以555为核心构成的单稳延时电路组成。 当按下按钮AN时，IC1(555)因②脚为低电平而发生置位，③脚输出的高电平使继电器J1吸合，相应将该通道的热电偶接通。同时，发光管
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振动测试电路
如图所示为振动测试电路。该测试电路由加速度计TA-25、集成运算放大器741(IC1、IC3、IC5、IC7)、场效应管输入的低漂移运算放大器等组成。其应用于周期性加速检测。由加速计TA-25输出的信号经过集成电路IC1(741)的低通
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简易锂电池保护IC测试电路的设计
本文中设计了一个简单的测试电路，借助普通的电子仪器就可以完成对锂电池保护IC的测试。
