设计自动化的测试系统开关需要搞清楚要开关信号和要执行测试的特点。例如,在测试应用中承受开关电压信号的最合适的开关卡和技术取决于其涉及电压的幅值和阻抗。中等大小电
PXI Express为PXI仪器平台增添了众多的技术优势,开辟了许多新兴测量领域。PXI Express仪器系统提供的高达2GB/s的数据吞吐量使得以前只能通过定制硬件或是昂贵的专用仪器才能实现的高速测量应用变为
1.引言 继电器是自动控制系统、遥控遥测系统和通信系统的关键元件之一,它广泛应用于航空、航天、电子、通信、机械等装备中,继电器的可靠性直接影响到由其组成的设备、系统的可靠性,继电器的
首页>技术文库>正文 硬件在环(HIL)测试系统的架构 关键词:硬件在环测试系统,嵌入式控制系统,HIL 时间:2016-08-26 09:34:53来源:中电网 HIL仿真是一种功能强大的测试方法,可以用于更加有
1、 引言 阀控式铅酸蓄电池(VRLA)在实际使用中会出现电池壳变形、电解液渗漏、容量不足、电池端电压不均匀等现象,实践证明,整组电池的容量是以状况最差的那块电池的容量值为准,而不是以平均值
电源端口传导电磁骚扰(CE)可分为连续骚扰和断续骚扰。 连续骚扰是指电子设备运行状态不变时,内部电子器件产生的电磁干扰,可在EMI接收机上直接读出连续干扰的数值,并和相应的EMC标准限值进行比较,
飞机防滑刹车控制器作为飞机防滑刹车系统的核心部件,其设计好坏直接影响到飞机的安全起飞和安全着陆刹车,系统性能的好坏需要通过测试设备来检验。我国对控制器的研究已有半个多世纪的时间,从机械-气压式到目前的
1. 基于NI SourceAdapt技术的NI系统源测量单元 源测量单元(SMU)是一种精密的仪器,可同时对同一通道的电流和电压进行同步源测量。 该功能使得SMU成为从精准直流电源到分析分立元件或集成电路等半导体组
1. 概览 无论是上升时间测量、信号周期测量抑或峰-峰值电压识别,示波器在过去的50年一直是测试测量领域极其宝贵的资源。从试验台到机架堆叠式自动测试系统,示波器一直是许多应用的核心。随着应用需求
1. 设计多通道测试系统来实现测试成本目标 随着半导体器件性能的提高和晶体管制造成本的不断下降,如何实现测试成本目标变得更具挑战性。要实现该目标的方法之一是并行测试多个设备,这通常需要具有两到
1. WLAN物理层介绍 WLAN标准是根据IEEE 802.11工作小组所定义并维护的,其中包含芯片制造商和接入点制造商。 此团队已经定义了多个802.11标准 – 从802.11a到802.11z均囊括在内。 然而,对WLAN设备
1. 专为自动化测试而设计 NI基于PXI的DMM款型从高性价比6½位型号到高性能7½位型号等不一而足, 包含市面上精度最高的7½位DMM。 某些型号所独有的特性包括扩展的测量范围、采样率高
1. 智能设备 对于许多人来说,物联网(IoT)已经成为现实。 当我们通过智能手机控制鸟巢温控器、使用手环记录我们行走的步数以及使用平板电脑观看视频时,我们已经切切实实在享受这些可感应、可连接和可计
在可用的测试和测量硬件和软件范围内进行选择,对初次用户和有经验的用户来说,都一样难办,这是可以理解的。 技术的进步使测量和测试方法的发展呈指数方式加快,给用户提供难以想象的强大系统
对于任何测试系统来说,开关系统都是至关重要的一部分。它可以将待测单元(DUT)的接入点和各种不同的资源进行连接,并且对设备进行测试,从而核实设备中的这部分功能的效用。开关可以给很多种信
为测试电子和机电器件设计开关系统所遇到的问题和设计产品本身一样多。随着器件中高速逻辑的出现以及与更灵敏模拟电路的连接,使得降低测试开关系统中的噪声比以前任何时候更加重要。 本文所述
计算机技术和大规模集成电路技术的发展,促进了数字化仪器、智能化仪器的快速发展。与此同时,工程上也越来越希望将常用仪器设备与计算机连接起来组成一个由计算机控制的智能系统。而工程中常用仪器
混合集成电路性能参数测试系统主要为检测集成电路芯片是否符合出厂参数而设计。本测试系统可完成八种不同集成电路多项性能参数测试,包括:工作电流、工作电压、载波抑制比、跨导、工作频率、噪声系
引 言 现场的总线控制系统(FCS)将是新世纪自动控制系统发展的主流,是继DCS后新一代的控制系统。现场总线是综合自动化发展的需要,同时智能仪器仪表则为现场总线的出现奠定了基础。 CAN(
针对数字量变换器性能参数的测试工作,以FPGA为控制核心,开展数字量变换器测试系统的设计和研究,并给出系统各模块的具体设计方法;系统通过USB实现与计算机的通信,能够产生计算机字信号及相应移