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Archer 200型叠对测量系统（KLA-Tencor）
KLA-Tencor 公司推出最新型叠对测量系统 Archer 200，它包含一个能够显著改善性能的增强型光学系统，这对于帮助客户在 32 纳米设计规格节点达到双次成图光刻更严格的叠对要求至关重要。
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基于ARM的条码精密测量系统
利用条码技术进行精密测量的典型仪器是1990年Leica公司开发成功的数字水准仪NA2000，这种光电一体化的新型仪器，具有测量速度快、精度高、操作简单、读数直观,能自动计算高差、高程，自动记录数据，计算机数据处理和容易实现基准测量一体化等诸多特点。国内目前对该技术的研究较少，本文提出了一种基于ST半导体公司的32位高性能处理器STR912FW44X6的测量系统方案。
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基于ARM的条码精密测量系统
基于ARM的条码精密测量系统
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一种基于DSP的张力、深度、速度测量系统
本系统用于油田测井过程中，对电缆所受的张力、油井的深度及电缆下井速度等参数的测量。重点阐述了系统结构及工作原理。
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一种基于DSP的张力、深度、速度测量系统
本系统用于油田测井过程中，对电缆所受的张力、油井的深度及电缆下井速度等参数的测量。重点阐述了系统结构及工作原理。
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基于ARM920T的嵌入式静力测量系统设计
本文介绍了一种基于单片机AT89C52的CAN总线分布式测控系统，主要阐述了系统的总体设计方案,以及控制模块和采集模块的软硬件设计，重点是系统中以单片机为核心的带有CAN总线接口的设计，解决现场各传感器得到的测量信号利用单片机进行存储和处理，然后通过与CAN控制器的通讯将信息发送到CAN总线上。
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如何用DSP和FPGA构建多普勒测量系统
随着FPGA性能和容量的改进，使用FPGA执行DSP功能的做法变得越来越普遍。
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如何用DSP和FPGA构建多普勒测量系统
随着FPGA性能和容量的改进，使用FPGA执行DSP功能的做法变得越来越普遍。
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如何用DSP和FPGA构建多普勒测量系统
随着FPGA性能和容量的改进，使用FPGA执行DSP功能的做法变得越来越普遍。
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基于DSP的线阵CCD实时测量系统设计
对于CCD光积分信号的处理，目前有很多种方法。DSP作为专用的数字信号处理芯片应用于ccD信号的处理，可以实现在线实时高速测量。将DSP处理系统与输入输出系统结合，可以使普通测量系统脱离对于计算机的依赖，摆脱长距离信号传输的干扰问题和计算机接口速度的瓶颈。DSP(数字信号处理器)是一种具有高速性、实时性和丰富的芯片内部资源的处理器，它的出现为人们解决这个难题提供了一条新的道路。本文将以型号为TMS320F206PZA的DSP为例，结合 ADC器件ADS803E，介绍DSP在线阵CCD测量系统中的应用。
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基于DSP的线阵CCD实时测量系统设计
对于CCD光积分信号的处理，目前有很多种方法。DSP作为专用的数字信号处理芯片应用于ccD信号的处理，可以实现在线实时高速测量。将DSP处理系统与输入输出系统结合，可以使普通测量系统脱离对于计算机的依赖，摆脱长距离信号传输的干扰问题和计算机接口速度的瓶颈。DSP(数字信号处理器)是一种具有高速性、实时性和丰富的芯片内部资源的处理器，它的出现为人们解决这个难题提供了一条新的道路。本文将以型号为TMS320F206PZA的DSP为例，结合 ADC器件ADS803E，介绍DSP在线阵CCD测量系统中的应用。
