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2012英国女王奖 牛津仪器荣获
英国是世界上最早实行专利保护的国家。本世纪初，英国政府提出实施知识经济战略，意在保持世界上科技领先地位和竞争优势，更凸现了尊重知识的重要意义。如今，英国以保护和开发知识产权方式推动技术转让工作，开始上
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电子显微镜新突破 可观察活虫
由于电子显微镜需要确保在真空状态下使用，因此以往只能观察死去的生物。近日，日本浜松医科大学(Hamamatsu University School of Medicine)教授针山孝彦领导的研究小组开发出一项新技术，使用特殊膜将生物包裹后，可
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世界上最小的4.8吋4k显示器亮相\"第23届日本精细技术“展示会
本月10日，在日本大网站开幕的平板显示展示会"第23届日本精细技术“上，ortustech开发出世界上最小的4.8吋4k显示器，实现了915ppi的超高像素密度。预计将使用在广播/电影用的4k摄录机取景器，以及电子显微镜、
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电子显微镜破解划蝽变身“潜艇”之谜
自然界中很多昆虫的翅面、腿部及某些植物的叶面存在很好的超疏水性。基于超疏水性研究仿生制备的材料在防腐抗污、减阻降噪、防水抗菌、自清洁等领域有广泛的应用前景。经过两个月的仔细观察，河西学院石彦龙课题组发
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先进光学仪器助力古代铜器研究
我国的众多文明都在岁月侵蚀和洗礼后，深埋在了地下。当人们看到出土的古代铜器时，一方面感叹古代的铜冶炼铸造技艺，一面为现在这些铜器在岁月侵蚀下光彩不再而惋惜。不过借助高科仪器，这些已经不再是问题，高科技
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纳米线有望打破太阳能电池转化效率
位于硅基片之上的纳米线吸收太阳射线。纳米线极有可能成为未来太阳能电池的发展主流。(自哥本哈根大学尼尔斯波尔研究所) 左图为硅底质上GaAs纳米线晶体的扫描电子显微镜图
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显微镜下的美与丑
显微镜下的世界总是让我们觉得惊奇，若能将它们最完美的一瞬拍下来就更是不易。之前，美国普林斯顿大学举办科学艺术微观摄影展中，参赛作品《婴儿乌贼》获一等奖。除此之外，也有些照片让人恐怖。这些照片会让人们认
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国家重大专项资助重庆原创性科研仪器设备研发
重庆在原创性科研仪器设备研发方面取得了进一步发展，具备一定实力。近日，“重庆创造”科研仪器获国家重大专项资助，重庆大学唐文新教授获得国家自然科学基金委重大科研仪器设备研制专项资助900万元，重庆医科大学王
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推动国家大型科学仪器中心平台运行服务和发展
日前，国家大型科学仪器中心平台领导小组会议在京召开，以深化平台运行服务，推动我国大型科学仪器开放共享。平台负责人汇报了2011年整体工作情况，并对2012年工作计划进行了安排。国家大型科学仪器中心平台是由13个
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电子显微镜的威力：像素达281GP的细胞照片
电子显微镜用得多了，不过我们往往都是用它来观察大物件的一小部分，荷兰莱顿大学医学中心的一班科学家就想到用它来宏观地观察一个小小的细胞。他们利用穿透式电子显微镜去拍下 26,000 张分别反映一个细胞不同部分的
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车轴用钢的多尺度微观组织分析方法项目通过验收
近日，“高速列车车轴用钢的多尺度微观组织分析方法研究”项目在北京通过了专家验收。该项目由清华大学承担，建立和发展了钢铁材料的多尺度微观结构的研究方法。“高速列车车轴用钢的多尺度微观组织分析方法研究”项
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国家大型科学仪器中心拥有价值2.2亿元仪器
为了进一步深化国家大型科学仪器中心平台(以下简称大仪平台)的运行服务，推动我国大型科学仪器开放共享，2012年5月8日，大仪平台领导小组会议在京召开。中科院邓麦村秘书长、科技部吴学梯副司长、国家科技基础条件平
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日科学家改进电子显微镜，首次实现有机结晶清晰观测
尽管人类对微观世界的研究更加深入，各种高科技的显微镜仪器也不断问世，但是想要对有机结晶进行观测却并不容易。因为即使的先进的电子显微镜也无法清晰对有机结晶进行观测，而电子束更是会破坏有机结晶影响观测。有
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扫描电子显微镜的特点及工作原理
2.4.1 扫描电镜的特点 与光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜具有以下特点： (一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 (二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。 (三) 样品可
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透射电子显微镜的结构与成像原理介绍
透射电子显微镜的结构与成像原理 透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源，用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率、高放大倍数的电子光学仪器。 There are four main components to a transmission electron mi
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罗列影响实验室显微镜成像的重要因素
将微小物体或物体的微细部分高倍放大，以便观察的仪器或设备。它广泛应用于工农业生产及科学研究。生物学和医学工作者在业务中也经常使用显微镜。大致分为光学显微镜和电子显微镜。光学显微镜成像原理：使用无限远光
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应用材料首为20nm制程开发自主式缺陷检测SEM
应用材料公司推出 Applied SEMVision G5 系统，进一步推升在缺陷检测扫描电子显微镜 (Scanning Electronic Microscope，简称SEM) 技术的领导地位，这是首款可供芯片制造商用于无人生产环境的缺陷检测工具，能拍摄并分
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应用材料为20nm制程开发自主式缺陷检测SEM
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应用材料为20nm制程开发自主式缺陷检测SEM
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应用材料为20nm制程开发自主式缺陷检测SEM
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