随着半导体产业环境持续变化,业界亟需一款开放式的标准平台,以协助现有的ATE测试降低成本、缩短测试时间并提升产能。美商国家仪器(NI)指出,得益于多核心、PCI Expresss与FPGA等现有技术进展,模块化PXI架构正进一
日前, LTE方面测试设备的全球领先供应商 Aeroflex 宣布,该公司已将最新 LTE 测试功能添加到了其灵活的模块化 PXI3000 平台中。此次最新添加的功能可使生产测试工程师缩短射频元件及 LTE 用户设备实现量产的时间。该
NI全新6款切換器模組,適用於高密度矩陣、多工器、一般繼電器,與RF應用。NI PXIe-2527、PXIe-2529、PXIe-2532、PXIe-2569、PXIe-2575,與PXIe-2593切換器,亦均提供PXI版本,並幾乎可搭配任何PXI Express儀器,可提
亚洲最大的数据采集与PXI平台产品供货商——凌华科技于5月26日在北京参加由美国国家仪器(NI)公司主办的第六届PXI技术和应用论坛(PXI TAC 2009)。据悉,凌华科技作为PXI技术的积极推进者,已是第六次受邀参加此次
亚洲最大的数据采集与PXI平台产品供货商——凌华科技于5月26日在北京参加由美国国家仪器(NI)公司主办的第六届PXI技术和应用论坛(PXI TAC 2009)。据悉,凌华科技作为PXI技术的积极推进者,已是第六次受邀参加此次
PXI Express将PXI平台推向新应用领域(图)