测试测量
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角位移传感器测试系统（泛华测控）
北京中科泛华测控技术有限公司在深耕传感器测试领域又推出了新品----角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内,采用通讯方式获取DUT
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生产制造中的低功耗测试方法
受无线和高功效器件的普及以及提供“绿色”电子系统的需求驱动，设计师越来越多地采用低功率设计来应对越来越艰巨的功能性功耗挑战。直到最近，管理制造测试过程中的功率问题已经成为第二大备受业界关注的要求。但随
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电力系统中直流接地检测的设计
引言 发电厂中的继电保护、自动装置、信号装置、事故照明和电气设备的远距离操作，和电力、电信、冶金、石化、化工等领域补给电源一般采用直流电源，而直流电源部分由蓄电池组、充电设备、直流屏等设备组成，
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基于NEC单片机的漏电检测仪表的设计
引言 随着电子仪器、电子设备的广泛使用，特别是家用电器的普及，家用电器的用电安全性问题不可忽视。泄漏电流、绝缘电阻、电气强度并称为电气安全性能中的3大电参数。其中泄漏电流，尤其是工作温度下的泄漏电流是
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负载功率监控提升高端电流测量性能
同时集成有高端电流检测放大器和模拟电压乘法器的芯片可以轻松测量负载功耗。乘法器输入的一端连接到负载电压,另外一端连接到负载电流的内部模拟端，由内部电流检测放大器产生与负载电流成比例的电压。所以乘法器的输
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通用组件实现基于USB的数据采集系统
图1是基于USB的数据采集系统的一种设计实例，该数据采集系统使用一个采用通用元件的串行模数转换器，例如D触发器、二进制计数器和移位寄存器。利用DLPDesign的DLP-USB245MFIFO-to-USB转换器模块，可以通过主机USB端口
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罗德与施瓦茨携手ASTRI演示LTE-TDD测试解决方案
在巴塞罗那举行的全球移动大会（Mobile World Congress）上罗德与施瓦茨公司携手香港应用科技研究所ASTRI（Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute），共同展示了LTE-TDD标准技术研发的最新进
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基于CDMA2000的MMS测试方案（罗德与施瓦茨）
CDMA认证论坛（CCF）认证了来自罗德与施瓦茨公司的新的MMS测试方案。作为R&S CMU200无线综测仪的一个软件更新，罗德与施瓦茨提供了业界第一个用于CDMA2000®的认证过的MMS测试用例。认证过程完成于2009年初。
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TS8980 RF测试系统（R&S）
罗德与施瓦茨积极的参与UMTS LTE移动无线标准的后续研发，该公司推出的新的R&S TS8980系统专门为LTE兼容的手机厂商和测试实验室设计。系统提供了用于通用研发测试，预兼容性测量和一致性测试的预配置测试场景。根
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R&S和香港应用科技研究所联合演示LTE-TDD测试解决方案
在巴塞罗那举行的全球移动大会（Mobile World Congress）上罗德与施瓦茨公司携手香港应用科技研究所ASTRI（Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute），共同展示了LTE-TDD标准技术研发的最新进
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自动测试系统中的波形数字化器
功能完整的数字电子示波器 电子示波器是实验室、工厂和现场的工程人员广泛使用的仪器，事实上电子示波器也是通过电子测试测量仪器类中，销量最大和销售金额最高的产品。在30年代末至40年代初，受电视广播和雷达测
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时域测量的高斯响应低通滤波器
幅度—频率特性是电子测量设备的最重要电学指标之一，幅—频特性的测量方法可分为频域法和时域法。频域法的激励源是标准信号发生器，输出从直流至高频的稳幅信号，根据被测设备的频率响应，定义在阻抗匹配情况下，高
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散射方法测量嵌入式SiGe间隔结构
散射测量方法日益应用于复杂结构的测量，并逐渐在间隔层的量测中占据主导地位。数量级在10nm或更薄的间隔层测量尤其困难。除间隔层厚度外，由间隔层过刻蚀导致的基板凹陷深度也对器件有着明显的影响。嵌入式
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应用散射技术测试复杂Spacer结构
长久以来，散射技术已充分展示其精准测量简单结构的能力，例如对浅沟槽隔离结构（STI）和栅极模块的量测。但是，IC制造商现在需要监测和控制越来越复杂的结构。Spacer是目前散射技术正在处理的复杂结构之一。Spacer会
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RIGOL获《今日电子》年度产品奖
2009年2月，《今日电子》杂志宣布，RIGOL DS1000B系列四通道数字示波器喜获“2008年度产品奖”。据《今日电子》透露，这次评选有严格的标准，只有在技术或应用方面取得显著进步、具有开创性的设计和性价比三个方面表
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