测试测量

基于PXI的源测量单元和PXI开关模块（NI）

美国国家仪器有限公司（National Instruments, 简称NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source measure unit，SMU）和业界最高密度的PXI开关模块。

集成运放参数测试仪校准装置的开发

IIC 2008：测试测量仪器厂商群芳斗艳

通信、消费类电子市场的巨大发展引发了测试测量仪器市场的迅速增长，不过，随着电子产品的开发周期日趋缩短，设计工程师正面临在短时间增加更多功能的挑战，待测系统复杂度的提高和测试时间的缩短也对测试仪器提出了

测试测量仪器技术进入2.0时代

测试测量仪器市场最近发生的一些事情似乎暗示着该行业已经进入一个新的阶段。首先要提到的是安捷伦科技，尽管该公司一度认为PXI并非测试测量技术的未来趋势，但却在06年底发起了针对该项技术方案供应商的两起收购（A

“柔性测试”技术开拓测试测量新时代

北京中科泛华测控技术有限公司宣布推出一种面向应用和系统、实现完整测试解决方案的技术——“柔性测试”技术。这一全新概念进一步理清了面向应用的测试系统概念，明确了测试测量技术的发展方向。　　随着电子技术的

全新光罩检查系统TeraFab系列（KLA-Tencor）

KLA-Tencor 公司推出了全新系列的光罩检查系统，为晶片厂提供更灵活的配置方式，以检验进货的光罩，并检查生产光罩是否存在会降低产能并增加生产风险的污染物。

构建高精度脉冲器件自动测试系统

前言 雷达的微波射频系统主要包括混频器、滤波器、放大器、天线等部分。其中放大器、混频器、T/R组件为脉冲器件测试的主要对象。这些关键部件会对雷达的脉冲调制信号造成影响，典型的信号恶化包含：信号过冲、定降、

20GHz带宽的TriMode三模切换探头（泰克）

泰克公司推出了配合世界上最快的4通道实时示波器使用的速度最快的探头。新的P7520探头提供了20 GHz的带宽，与DSA72004数字串行分析仪(DSA)示波器的带宽配套，为电气工程师提供了最先进的示波器和探头组合。

安捷伦加入LTE/SAE试验联盟 推动LTE商用化进程

安捷伦科技(Agilent)日前宣布加入长期演进/系统体系结构演进(LTE/SAE)试验联盟。该联盟致力于推进基于LTE/SAE技术的高速无线宽带网络在全球实现商用化。安捷伦是唯一一家提供LTE互通测试和外场试验的公司，测试范围从

“全内置”串行数据接收机测试解决方案（泰克）

泰克公司推出SerialXpress®高级软件www.tek.com/serial_data。这种新软件为高速串行数据接收机测试直接合成波形，特别适合测试SATA、SAS、PCI-Express、HDMI和DisplayPort串行数据标准及工作速率在6 Gbps以下的任何其它串行总线技术。

TekExpress一致性自动测试平台简介

串行数据速率的稳步提升，要求严格的标准和更先进的一致性测试解决方案。

TekExpress SATA一致性测试软件（泰克）

泰克公司日前宣布，推出新的TekExpress™一致性自动测试平台和新的TekExpress SATA自动一致性测试软件。

基于ARM与MEMS器件的微惯性测量装置设计

开发一种生物运动微惯性测量装置，以基于ARM7的LPC2129为核心处理单元，采用MEMS陀螺和MEMS加速度计为测量传感器。

FlexRay汽车测量软件（安捷伦）

安捷伦科技日前推出一款测量应用软件，可为Infiniium系列示波器提供全面的FlexRay触发、协议解码、调试和眼图分析功能。

DisplayPort 兼容性测试全解

前言 在模拟的时代，由于多年不变的规格和较为单纯的设备连结，以及使用者对影像质量要求不高等因素，较单纯的环境使得传统家电的厂商在兼荣性的要求上远不如IT的业者。然而，当消费性影音随着整个大环境的演变进入了