测试测量
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设备软件可靠性测试
检验设备软件在各种条件下可实现持续运行状态，以及评估设备从故障中恢复正常服务所需要的时间和其他影响，就是软件可靠性测试主要涉及的课题。设备为达到连续可运行目标，除了在硬件设计中考虑器件可连续无故障运行
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用BERTScope做好接收机测试，迎驾5Gbps USB3.0
最高速度扩大到5Gbps的USB3.0自完成标准制定以来，对应产品不断出现，但主要集中在闪存盘和移动硬盘等存储类Device产品。笔者从“泰克2011年春季创新论坛”上获悉，已发布两年的USB3.0在中国受到开发者热捧
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利用USB2.0单片机实现全数字图像的实时采集
主要论述利用USB2.0单片机接口技术实现高分辨率（640×480点阵以上）、快速（24帧/s以上）全数字图像的实时采集、传输的原理、方法和系统实现，以及相应的固件程序设计。引言传统的方法是用视频采集卡（如1394）
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半导体功能测试基础术语
半导体功能测试包含一些新的术语，这里先简单介绍一下：Output Mask 输出屏蔽，一种在功能测试期间让测试通道的输出比较功能打开或关闭的方法，可以针对单独的pin在单独的周期实施。Output Sampling 输出采样，在功能
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基于TCP／IP的多数据流传输测控系统的设计与实现
摘要：为保证子测控设备的独立测量、状态监控和实时数据的同步传输，设计基于TCP／IP的多数据流传输测控系统，对需求参数进行测量，采用基于多重事件的网络通信技术、数据采集技术及基于队列的多数据同步处理技术，利
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如何提高G652D光纤宏弯损耗测试效率
光纤宏弯损耗测试，在国家标准GB/T9771.3-2008中描述为：光纤以30mm半径松绕100圈，在1625nm测得的宏弯损耗应不超过0.1dB。而注2中描述：为了保证弯曲损耗易于测量和测量准确度，可用1圈或几圈小半径环光纤代替100圈
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Design Compiler 2010将综合和布局及布线的生产效率提高2倍
半导体设计、验证和制造的软件及知识产权（IP）供应商新思科技有限公司（Nasdaq:SNPS）日前宣布：该公司在其Galaxy™设计实现平台中推出了最新的创新RTL综合工具Design Compiler® 2010，它将综合和物理层实
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基于GPSD的高精度校时系统
摘要：天文观测设备对于控制系统的时间准确度有严格要求。为此，采用搭建高精度NTP服务器的方法实现系统校时。基本思路是从NMEA018 3数据中提取时间信息，通过PPS信号来保证高精度。具体实现方法是采用GPS接收模块G5
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基于电力网通信芯片的量产测试研究
摘要：讨论了数模混合芯片的典型测试方法，并按测试方法进行了测试开发；讨论了测试调试中的问题以及降低测试成本的方法。该设计可满足芯片大规模量产的测试需求，并能够达到预期设计目标。 关键词：电力网；通信芯
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基于RTU油井远程测控系统的数据采集与传输层软件设计
摘要：提出了一种基于RTU油井远程测控系统的数据采集和传输层软件设计方案。介绍了实现各种传感器的数据采集、传输以及外部继电器控制的软件设计方法，并对实现Modbus／RTU和Modbus／TCP的通信进行了详细分析。分析结
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MLCC选型：仅仅满足参数还远远不够
购买商品的一般决策逻辑是：能不能用，好不好用，耐不耐用，价格。其实这个逻辑也可以套用到MLCC的选型过程中：首先MLCC参数要满足电路要求，其次就是参数与介质是否能让系统工作在最佳状态；再次，来料MLCC是否存在
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雪崩光电二极管反向电流的测量
雪崩光电二极管（APD）是一种高灵敏度、高速度的光电二极管。施加反向电压时，能启动其内部的增益机构。APD的增益可以由反向偏置电压的幅度来控制。反向偏置电压越大增益就越高。APD在电场强度的作用下工作，光电流的
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精确测量功率MOSFET的导通电阻
电阻值的测量通常比较简单。但是，对于非常小阻值的测量，我们必须谨慎对待我们所做的假定。对于特定的几何形状，如电线，Kelvin方法是非常精确的。可以使用类似的方法来测量均匀样本的体电阻率和面电阻率，但是所使
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尺寸缩小对沟槽MOSFET性能的影响
0 引言近几年，随着电子消费产品需求的日益增长，功率MOSFET的需求也越来越大。其中，TMOS由于沟道是垂直方向，在相同面积下，单位元胞的集成度较高，因此导通电阻较低，同时又具有较低的栅－漏电荷密度、较大的电流
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在嵌入式多核集群中利用OCP处理高速缓冲器一致流量
源于一种基于消息的存储一致模型传统上，多处理器系统中的存储器一致性都是通过总线侦听实现的，每个内核都与一个通用多层总线连接，能够侦听同级处理器的存储器存取流量，以调节每个高速缓冲器行的一致状态。这样，
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