使用两条线测量电阻非常方便,但会产生测量误差。通过使用4条线及源端子和测量端子分开的万用表,几乎可以消除这种误差。遗憾的是,增加额外的引线和连接提高了测量的复杂程度。您需要连接增加的引线,在从电压变成电
前言作为DDR2的继任者,根据JEDEC标准, 目前DDR3的数据速率跨度从800Mbps开始直至1.6Gbps。在带给用户更快性能体验的同时, DDR3却能保持较低的功耗,相比DDR2减少约20%。虽然2008年整个DRAM市场低迷,DDR3的出货量远
1 引言在生产、科研和日常生活中需要使用不同的频率,实现频率测量的方法较多,使用专用器件,其电路设计简单,易于调试,但成本高,使用不灵活。本文介绍一种利用单片机ADμC834实现的频率智能化测量方法,所需外
现在由于需要支持10G以太网的测试,各个标准正在对仪器需要的精度进行讨论,基本只有达到IV精度的仪器才能支持10G以太网的测试。 但是,现在不论是TIA,ISO还是IEEE,都还没有对IV精度应该达到什么样的标准最后定
我们选用Motorola 公司生产的高性能7/2位A/D 转换器件MC14433 ,其片内含有振荡器,只要外接两只电容和两只电阻即可,在此选其输出量程为199. 9mV。 MC14433 的输出信号端中Q0~Q3 为BCD 码数据输出端,DS1~DS4 分别是千
1.引言:“柔性测试”技术是以相关技术为依托,满足测试测量需求的系统设计与实现技术。它以虚拟仪器技术、测试测量技术、机电一体化技术、软件技术、通信及网络技术为核心,是现代测试技术的代表之一,它
测试仪器虽然不像电子消费品那样琳琅满目,但种类仍然为数不少。我也没有发现一个网站提供像电脑或手机那样的评测,以便用户在购买之前就能对其有所认识。更不幸的是,测试仪器价格一般价格比较昂贵,使用寿命也比较
虽然进行精确的高速示波器测量可能具有挑战性,但是运用一些简单提示和技巧可以显著改善测量结果。本文收集了一些容易实施的方法,可以确保您的每次时域测量都能够快速准确地得到结果。尽管其中有些方法看上去很基本
1 引言在电路测试中。常常需要测试频率特性。电路的频率特性体现了放大器的放大性能与输入信号频率之间的关系。频率特性测试仪是显示被测电路幅频、相频特性曲线的测量仪器。在此,采用集成的直接数字合成器(DDS)AD9
Virtex-5 FPGA架构经优化,可利用LabVIEW FPGA模块中的单周期定时循环更快速、更有效地运行。实现FPGA芯片内部的数字逻辑的基本构建模块被称为slice,每个slice由多个触发器和查询表(LUT)组成。上一代的Virtex-II FP
如果适配器模块是由NI公司开发的,那么不需要任何VHDL或其他硬件描述语言的经验。所有的FPGA编程均通过NI LabVIEW FPGA模块和NI-RIO驱动程序软件以图形化的方式完成。如果该适配器模块是由第三方开发的,则或许提供定
NI LabVIEW FPGA模块可以帮助您利用LabVIEW程序框图对一个FPGA进行编程。在其底层,该模块采用代码生成技术实现图形化开发环境与FPGA硬件的整合。这种利用程序框图处理FPGA的方式非常适用于FPGA所提供的对内在并行机
NI FlexRIO适配器MDK可供那些希望开发其自己的NI FlexRIO适配器模块的富有经验的工程师们或合作者们使用。MDK提供了关于电气与机械设计细节的全部文档(其中包括CAD文件和PCB轮廓图),以及整体金属封装。工程师们可以
您在挑选面向NI FlexRIO的I/O适配器模块时可有三种选择。首先,NI公司将为具体应用开发适配器模块,以实现与LabVIEW FPGA模块和NI-RIO驱动程序的最佳软件集成。NI 6581是第一款NI适配器模块,它具有100 MHz数字I/O和
上电循环测试非常重要,因为它测试的是用户环境。设计不良的系统板或芯片会造成上电循环测试失败。此外,对系统板工作台测试时,上电循环测试的设置可能需要采用沉重而昂贵的商用电源。当你需要同时测试多块系统板时