新思科技接口和基础 IP 组合已获多家全球领先企业采用,可为 ADAS 系统级芯片提供高可靠性保障
进入2023年,工业4.0背景下工业控制市场的产业链各级厂商全面发力,不断加速工业制造在数字化、智能化、绿色化等发展方向上的推陈出新。据Prismark统计,2019-2023年全球工业控制市场规模年均复合增长率为3%,预计2023年全球工业控制的市场规模将达到2600亿美元。此外,据Yole Development统计,存储器细分领域NOR Flash在2021年的市场规模为35亿美元,预计2027年增长至49亿美元,年均复合增长率约为6%。可以预见,MCU芯片、嵌入式存储器等作为工业控制领域的核心部件,市场需求量持续攀升,众多上游原厂也在争先发力,各自推出更高性能、更高可靠性的产品以抢占市场先机。
近期关于格芯(GLOBALFOUNDRIES)将出售新加坡Fab 7厂的消息和猜测纯属谣言。任何关于出售Fab 7厂和出售格芯的传闻均为无稽之谈。
为新的ASIC/SOC选择最优嵌入式存储器IP是设计决策的关键。设计师应了解适用于其特定应用程序的最佳存储器特性的所有关键参数,其寻求的存储器IP应具有足够的适应性,可满足目标SoC的各种需求。尽管有现成的免费存储器IP可供使用,但与可为特定应用程序提供更好特性的收费IP相比,它并不能总是提供最佳解决方案。
随着超大规模集成电路工艺的发展,人类已经进入了超深亚微米时代。先进的工艺使得人们能够把包括处理器、存储器、模拟电路、接口逻辑甚至射频电路集成到一个大规模的芯片上
随着超大规模集成电路工艺的发展,人类已经进入了超深亚微米时代。先进的工艺使得人们能够把包括处理器、存储器、模拟电路、接口逻辑甚至射频电路集成到一个大规模的芯片上
随着超大规模集成电路工艺的发展,人类已经进入了超深亚微米时代。先进的工艺使得人们能够把包括处理器、存储器、模拟电路、接口逻辑甚至射频电路集成到一个大规模的芯片上
近期台积电技术长孙元成在其自家技术论坛中,首次揭露台积电研发多年的eMRAM(嵌入式磁阻式随机存取存储)和eRRAM(嵌入式电阻式存储器)将分别订于明后年进行风险性试产。预计试产主要采用22nm工艺。这种次世代存储将能够为物联网、行动装置、高速运算电脑和智能汽车等四领域所提供效能更快和耗电更低的存储效能。台积电此举让嵌入式存储器再度回到人们的视线中。本文将为你阐述嵌入式存储器的前世今生。
随着集成电路制造工艺水平的提高,半导体芯片上可以集成更多的功能,为了让产品有别于竞争对手的产品特性,在ASIC上集成存储器可以降低成本和功耗、改善性能、增加系统级芯
物联网(IoT)发展热潮将推升嵌入式记忆体需求。行动装置、汽车、工业等机器对机器(M2M)装置对固态硬碟需求持续攀升,加上嵌入式系统因应巨量资料(Big Data)来临,对记忆体容
1 引言 建立芯片模型是在早期进行芯片架构决策的有效方法,通过建模不仅可以对芯片的性能做出分析,还可以在硬件没有完成之前开发软件,不仅提高了产品成功率,而且
在传统的大规模ASIC和SoC设计中,芯片的物理空间大致可分为以下三部分:1.用于新的定制逻辑2.用于可复用逻辑(第三方IP或传统的内部IP)3.用于嵌入式存储如图1所示,当各厂商
比较:体校晶体管和FD-SOI晶体管元器件交易网讯 11月7日消息,据外媒 Electronicsweekly报道,Memoir Systems宣布已采用其算法内存技术为意法半导体独有的 FD-SOI(Fully Depleted Silicon-on-Insulator,全耗尽绝缘
Mentor Graphics公司(纳斯达克代码:MENT)今天宣布其已通过添加嵌入式存储器成功拓展了Kronos™单元特征化与分析平台。Kronos平台可在高级集成环境中为标准单元、I/O、复杂单元和嵌入式存储器高效制作精确的性
引言 近年来,消费者对电子产品的更高性能和更小尺寸的要求持续推动着SoC(系统级芯片)产品集成水平的提高,并促使其具有更多的功能和更好的性能。要继续推动这种无止境的需求以及继续解决器件集成领域的挑战,最
随着SoC设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展,高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试,可提高DPM、产品质量及良品率,因而正
Synopsys推出DesignWare嵌入式存储器和逻辑库
关键字:存储器测试系统级芯片(SoC)中存储器容量的增加以及嵌入式存储器支配整个裸片良品率的事实,使良品率设计(DFY)面临日益严峻的挑战,特别是在新兴的90nm和65nm半导体技术领域。由于嵌入式存储器容易产生较高的
新型的嵌入式存储器测试算法
在实际测试中总是得面临测试工具的成本,测试开发时间,测试机台的时间,测试向量的调试时间,以及测试覆盖率之间的考量与抉择。宏测试是可以有效地对那些与日俱增的小型嵌入式模块进行静态与实速故障测试的工具。它甚至可以应用到较大的存储器,透过芯片的功能逻辑,自动执行全速测试。