惠瑞捷 (Verigy)推出了全新的 HSM3G 高速存储器测试解决方案,进一步拓展了面向 DDR3世代主流存储器 IC 和更高级存储器件测试能力的 V93000 HSM 平台。V93000 HSM3G 独特的优势在于其未来的可升级性,能够为数据传输
泰克公司,近日在2010中国电源学会技术年会开关电源分会场为业内人士带来一场“创新的自动功率电子分析与测试方案”的主题演讲,并展示了相应的示波器产品和应用模块。 中国电源学会技术年会的前身为著名的电源工程
近日,广晟微电子有限公司(RME)??集成电路行业具领先水平的高频无线通信射频收发芯片供应商,携手LTX-Credence有限公司(NASDAQ:LTXC)??国际知名自动测试方案商,在LTXC的X系列自动测试平台上成功地将新一代TD-S
长期演进(LTE)无线网络给测试设备供应商提出了若干挑战。3GPP定义的LTE空中接口,在下行采用正交频分多址(OFDMA)技术,在上行采用单载频频分多址(SC-FDMA)技术,且上下行同时采用了多输入多输出(MIMO)天线配置以最大
据悉, 2010年安捷伦测试测量大会将于1月20日在成都香格里拉大酒店拉开帷幕。此次大会将涉及无线通信与数字测试、国防与航空航天科技两大领域的20多个专题。在此次会议中,来宾将亲临现场见证安捷伦科技70年的技术飞
力科公司和连续光信号分析仪的主要供应商Optametra,在3月23~25日圣迭戈举办的OFC/NFOEC 1406展位上展示合作方案。 力科30GHz实时示波器WaveMaster 830Zi已经用于每信道为56Gb/s 使用PM-QPSK的224Gb/s 测量。这是加
安捷伦科技公司宣布,将在 2010 年美国无线通信展(CTIA)上展示其最新的测试与测量解决方案。本届通信展将于 3 月 23 日到 25 日在美国拉斯维加斯会展中心举行,安捷伦在 2427 号展台。安捷伦展示的测试解决方案覆盖
Tektronix新推出自动兼容性和测试自动化解决方案TekExpress,跨越了SATA和SAS(串行连接SCSI)标准,包括由UNH-IOL和SCSI商业协会(STA)所定义广泛的SAS兼容性测试,储存系统设计人员只需按一个键,即能完成这些测试
Rohwedder集团位于北京的亚太区总部(Rohwedder亚太)与苏州CIMTEK测试技术公司签订了一份战略性合作协议。Rohwedder亚太的实体即JOT自动化技术(北京)有限公司。 合作双方希望能在自动化和测试方案领域建
为了更好地服务用户,罗德与施瓦茨公司北京开放实验室于2010年1月正式对外开放。实验室面向R&S公司的客户完全免费,提供丰富的提供测试仪器和强大的技术支持,真实的试验环境客户可以在此搭建真实的实验环境,以验证
随着国内诸如搭载CMMB等功能多媒体手机、MP4/5等移动手持消费类电子产品的快速发展,加入了无源器件、射频器件、MEMS、以及多个子系统高度集成的SiP产品技术发展迅猛,对IC设计、封装、以及测试都提出了新的要求和挑
安捷伦科技(Agilent Technologies)发布,旗下经扩充的高分辨率多媒体接口(HDMI)测试解决方案组合已于加州Burlingame的CEA 861/HDCP PlugFest13中展出。扩充后的解决方案可让工程师测试HDMI 1.4版规格的新功能,例如
前言 目前,在许多应用领域,例如处理器、移动电话、调制解调器等产品,SOC技术已经成为主要的研究方向。这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权(IP)核,甚至将微处理器、外围接口、通
力科正式发布了QualiPHY-SAS2,这是首个SAS-2的物理层发送端兼容性测试应用方案,SAS-2是最新的串行连接SCSI标准。这个软件的发布扩展了力科自动化串行数据兼容性测试方案的组合,为SDA8Zi系列示波器提供了自动化控制
USB简介USB(Universal Serial Bus)即通用串行总线,用于把键盘、鼠标、打印机、扫描仪、数码相机、MP3、U盘等外围设备连接到计算机,它使计算机与周边设备的接口标准化,从 2000年以后,支持USB2.0版本的计算机和设备
HDMI 1.4的发布对相关设备的兼容性测试带来新的挑战,这些挑战包括新增的嵌入式以太网和音频测试、面向汽车应用的测试、以及对于3D图形和4Kx2K高分辨率的测试。“虽然兼容性测试规范CTS1.4还没有出台,但是我们已为最
由于新能源最近的红火,很多企事业单位都把眼光投到了这块新兴能源上,其中包括核能、风能、太阳能等。除了很多厂家积极投资到这部分产品之外,作为评估检测产品的各机构也纷纷开始修订很多新的检测标准。如何测试评
Mentor Graphics宣布其硅芯片测试与诊断方案已经获得晶圆代工大厂联电(UMC)认证,可运用于联电的65与40纳米参考流程。该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生(automated test pattern generation,