-
Mentor芯片测试方案获联电65/40纳米制程认证
Mentor Graphics宣布其硅芯片测试与诊断方案已经获得晶圆代工大厂联电(UMC)认证，可运用于联电的65与40纳米参考流程。该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生(automated test pattern generation，
-
Mentor芯片测试方案获联电65/40纳米制程认证
Mentor Graphics宣布其硅芯片测试与诊断方案已经获得晶圆代工大厂联电(UMC)认证，可运用于联电的65与40纳米参考流程。该硅芯片测试流程的基础是TestKompress自动化测试向量产生(automated test pattern generation，
-
GPS接收机性能验证测试方案
全球定位系统（GPS）接收机技术自从1983年免费开放民间使用以来，已得到了广泛应用，如今从手机到个人导航设备（PND），再到照相机和带有RFID标签的其他同类产品，电子世界到处都有GPS的身影。 尽管GPS技术日益普
-
Parasoft全面进军中国市场 提供先进的软件测试方案
Parasoft全面进军中国市场 提供先进的软件测试方案
-
一种基于FPGA的误码性能测试方案
在数字通信系统的性能测试中,通常使用误码分析仪对其误码性能进行测量。它虽然具有简单易用、测试内容丰富、误码测试结果直观、准确等优点,但是,价格昂贵、不易与某些系统接口适配,通常需要另加外部辅助长线驱动电路
-
一种基于FPGA的误码性能测试方案
在数字通信系统的性能测试中，通常使用误码分析仪对其误码性能进行测量。它虽然具有简单易用、测试内容丰富、误码测试结果直观、准确等优点，但是，价格昂贵、不易与某些系统接口适配，通常需要另加外部辅助长线驱动
-
智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究
设计了智能卡操作系统底层驱动模块和FI。AsH读写模块，并提出针对这些模块函数的测试方案。首先介绍智能卡操作系统的基本概念和智能卡硬件的基本结构；然后以接触式智能卡为例，从芯片的硬件结构出发，提出COS操作系统通信和硬件模块以及操作系统的异常处理机制的设计方案，并提出一种操作系统底层的测试方案，即Testing COS。这里从COS性能的角度出发设计底层模块，并提出针对底层模块函数的测试方案。
-
全智科技与创意电子推出RF SiP量产测试方案
专注于RFIC/SiP/SoC测试领域的专业测试服务公司全智科技与SoC及ASIC设计服务厂商创意电子宣布,双方合作开发的移动电视调谐器(Mobile TV Tuner)的内嵌射频系统封装(RF SiP)的量产测试解决方案已应用于客户芯片量产。目
-
用于现代印制线路板组装的高效测试策略
当今电子制造商正面临着越来越大要求降低成本、提高质量及缩短面市时间的压力，正确的测试策略可以帮助公司提高效率，制造出合格的产品，同时，在产品设计、设备投资、制造及质量保证过程中引入测试还能有效地降低成
-
基于CDMA2000的MMS测试方案（罗德与施瓦茨）
CDMA认证论坛（CCF）认证了来自罗德与施瓦茨公司的新的MMS测试方案。作为R&S CMU200无线综测仪的一个软件更新，罗德与施瓦茨提供了业界第一个用于CDMA2000®的认证过的MMS测试用例。认证过程完成于2009年初。
-
802.16e OFDM/A 柔性测试的 WiMAX 测试方案
概述吉时利最新的 WiMAX 测试方案为用户开发和测试 802.16 OFDM/A 产品提供了无可比拟的灵活性。该平台同样非常适用于工程开发和高度自动化的制造环境。工程人员和生产厂商利用该方案的硬件和软件架构能够快速分析和
-
安捷伦科技推出 USB 3.0 物理层一致性测试方案
安捷伦科技公司日前宣布推出超高速USB 3.0 设备综合测试解决方案，该解决方案可确保超高速USB 3.0设备符合最新公布的标准。 在加州圣何塞市举行的首届USB 3.0开发商大会上，安捷伦演示了其最新的USB 3.0发射机和USB
