罗德与施瓦茨公司发布新型可独立运行的扫频仪。与传统的扫频仪不同,R&S的新型扫频仪TSMA 内置了一颗强大的处理器,不再需要连接外部电脑来进行测量。与传统扫频仪相比,这款扫频仪集成度更高,重量更轻,且无需外部
21ic讯 罗德与施瓦茨公司,测试与测量领域的全球领导者,宣布与无线接入网络(RAN)中增长最快的供应商之 — 通讯器件公司(CCI)合作,为运营商提供基站安装和维护的增强型产品,其中包括PIM测试的全面测试服务解
2015年世界移动通信大会,巴塞罗纳 — 罗德与施瓦茨公司,测试与测量领域的全球领导者,宣布与无线接入网络(RAN)中增长最快的供应商之 — 通讯器件公司(CCI)合作,为运营商提供基站安装和维护的增强型产品
近几年来发展最为迅猛的一项技术是无线局域网(WLAN)技术。尽管这项技术最初由于笔记本电脑、智能手机和平板电脑等个人设备的普及而得到快速发展,但市场调查表明这一发展势
NI (美国国家仪器公司,National Instruments,简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商, NI近期发发布了《自动化测试趋势展望2015》,重点阐述了该公司对最新测试和测
罗德与施瓦茨公司将在巴塞罗那世界移动通信大会上为所有无线通信业者提出创新解决方案。此测试和测量专家已率先铺开LTE-Advanced并向5G演进。2015年1月30日,慕尼黑 — 罗德与施瓦茨公司再次在巴塞罗那有两个展
你用过数字示波器中的通过/失败测试(pass/fail testing)功能吗?如果你需要对小批量设备开展重复性测试,这是一个很好的工具。你也可以在自动测试环境中使用pass/fail测试。
罗德与施瓦茨公司将在纽伦堡举行的embedded World 2015展会中重点展示其Scope-of-the-art系列示波器的亮点以及多种创新技术。包括:R&S RTO系列和R&S RTE系列示波器支持16bit高清晰度;R&S RTM系列示波器支持更多可
功率分析仪、示波记录仪、数据采集仪、示波器……逆变器测试工程师每天都要和这些仪器打交道,往往需要使用数台仪器同时测试。根据光伏逆变器行业的产品测试需
量化网络在个体用户上体验一直是很困难的工作,而测量无线网络性能的挑战性则更高。因为WLAN环境确实非常复杂,因此真的没有任何一个工具可以一次性测量无线性能的各个方面
文章陈述了手机发展趋势及耗电特性,集中讨论了时下最为关心的智能手机耗电问题,并介绍了测量手机软件耗电量的两种方法。此外还解释了为何运营商此前会提出收取微信的费用
固纬电子展台固纬电子是一家有着40多年历史的台湾电子测试测量企业,在2000年正式进入中国大陆市场,近日参加了第84届中国电子展。“在我们进入大陆市场初期,大部分客户都是台商生产企业。随着企业的发展,现在
2014第25届中国国际测量控制与仪器仪表展览会于9月23日-26日在北京 · 中国国际展览中心展出,FLIR也参加了本次展会,并携众多新品首次在国内亮相。FLIR 是一家红外热成像仪设计、制造及销售领域的公司,其作
[导读] 在PXI TAC 上,NI 中国射频与无线通信市场开发经理 姚远 先生围绕无线技术的最新发展展开讨论,针对渐趋复杂的无线测试和不同无线设备的测试方案,深入探讨了如何通过 NI PXI测试策略的优化来提升测试效率。
与用于航空、军事等行业的专业化仪器不同,通用性的测试测量仪器越来越需要集成功能一体化,强调数模技术、语音技术、大数据和智能化。与此同时,新时代的工程师日常所使用的消费电子产品的创新速度已经超过他们所使
每个时期都会涌现特定的标志性产品,测试测量行业也同样如此。上世纪六、七十年代,工程师们使用的是阴极射线示波器和指针万用表,现在通常称这些仪器为 “模拟”仪器。到八、九十年代,基于模数转换器和
【导读】试测量企业:放眼未来 做眼前的事 近年来,随着信息化以及电子技术的发展,全世界测试仪器市场始终保持增长势头。根据市场研究机构Frost&Sullivan发布的报告显示,2011年全球测试测量市场预计将达到
【导读】2006年第四季度十大热门测试测量新品评析 PICKERING INTERFACES:可承受60W负载的交换矩阵 编辑推荐:Pickering Interfaces最新推出的40–581双刀单槽占3U的机架空间PXI(面向仪器系统的PCI扩展
【导读】RECOM,亚洲有限公司,上海办事处,正式成立 RECOM通过在上海设立中国支援中心在扩大其全球范围的客户支援机 2009年五月一日,RECOM通过在上海设立中国支援中心在扩大其全球范围的客户支援机 构方面
【导读】历时四个多月,全国10个城市。力科公司2010年高速串行数据测试技术巡回研讨会胜利召开。 该次研讨会的主题是“ 携手力科,迎接5Gbps+测试测量时代”。 ——力科公司2010年高速串行数据测试技术巡回研讨会