本文所设计的计程仪系统采用双传感器组合结构,并结合微处理机技术(选用了MCS-51系列单片机及与之配套的专用接口芯片),组成了计程仪专用计算机系统。
随着微电子技术和计算机技术的发展,计算机被引入电子测量仪器,形成基于计算机的自动测试系统。
就在中国自主研发的3G国际标准——TD-SCDMA即将实现商用的时刻,TD-SCDMA首个应用开发与测试系统在香港正式推出。香港将凭借其在移动通讯技术方面的优势,有力地促进中国TD-SCDMA产业的国际化及更快发展。 香港无
采用PCL-818HG数据采集卡和Visual C++6.O开发了混凝土结构损伤测试系统。可以实时测量荷载、位移、应变及加速度等损伤特性参数。
本次开发综合考虑了MCU和CPLD的相互作用,采用了交流采样技术,认真考虑VHDL进程并行和CPLD的结构特点,并应用电路简化的几种技巧与方法,充分利用CPLD的硬件资源优化电路,实现系统对稳定性,精确度等方面的要求。
日立日前将电气测量取代光吸收测量而运用于免疫分析中,开发出一款半导体生物传感器芯片。 日立公司表示,电气测量不需要大量的光学器件,可以建立起一个便于携带的低成本免疫分析测试系统,其外形能从一个冰箱的大小
本文介绍了一个以TDS1000/2000/3000B系列示波器为基础构成的动态能量测试系统。
美国KineticSystems公司联合国内信号产生采集处理领域企业西安春秋视讯公司在国内推出包括cPCI/PXI类信号调理、采集和产生模块(卡),VXI类信号调理、采集和产生模块,CAMAC类的各种功能模块,便携式抗冲击测试系统
NI CompactDAQ是一个适合在工作台、工程现场和生产线上进行传感器和电气测量的新型优选平台。该系统提供了一个8槽机箱,其I/O模块在单个系统下可实现高达256个通道的电气、物理、机械和声波信号的测量。
据reed-electronics网站报道,ADE公司近期宣布,该公司从日本圆片供应商获得了WaferSight(TM)圆片质量检测系统的百万美元订单,将为此客户的300mm圆片于2006年后半年和2007年上半年提供服务。Gartner预测300mm晶圆片
美国国家仪器有限公司(National Instruments,简称NI)宣布推出全新基于USB的模块化数据采集系统——NI CompactDAQ。NI CompactDAQ是一个适合在工作台、工程现场和生产线上进行传感器和电气测量的新型优选平台。该系
据半导体设备与材料网消息,科利登系统(Credence System)公司推出测试系统Sapphire D-10半年以来,凭借其低成本高性能的吸引力,科利登正在加速其市场前进的步伐。4月份,来自这家公司的最新消息称,位于德国Stuttga
科利登系统有限公司 宣布:欧洲领先的独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字和混合 信号芯片,以及一些工业上应用
欧洲独立专业测试实验室microtec GmbH,购买了多台科利登系统公司(Credence Systems Corporation)的SapphireTM D-10测试系统。该测试实验室将使用这些业界领先的测试系统来测试多媒体音/视频数字和混合信号芯片,以及
针对产品研发,制造以及工程领域不同需求的通信仪表厂商Optellent近日推出OptoBERT测试系统。不同于以往昂贵的BERT测试方案,Optellent的这一新产品可以支持从155Mbps到3.125Gbps的各种应用,诸如光器件研发生产,高