据Reed Electronics网站报道,薄膜测量与缺陷检测设备供应商Rudolph Technologies, Inc.近期宣布,该公司新一代全表面缺陷探测系统已经开始向美国闪存制造商交货。该系统将用于圆片快速前端检测,AXi935缺陷检测系统
提出了基于边缘检测的二值化与扫描线相结合的车牌定位方法。实验表明该方法能够快速、准确地定位车牌,且抗干扰能力强,定位准确率在99%以上,光照和天气对其定位结果影响很小。
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