摘要:介绍了用Multisim仿真软件分析三态门工作过程的方法,目的是探索三态门工作波形的仿真实验技术,即用Multisim仿真软件中的字组产生器产生三态门的控制信号及输入信号,用Multisim中示波器、逻辑分析仪多踪同步
作为数字设计验证与调试过程中重要的工具,逻辑分析仪利用时钟脉冲从测试设备上采集和显示数位信号,能够检验数字电路是否正常工作,帮助查找并排除故障,加快产品面市周期。逻辑分析仪只显示两个电压等级(逻辑状态
趋势1:从并行测量发展到串行测量过去的嵌入式设计通常采用并行体系结构,这意味着每个总线组成部分都有各自的路径。因此,只要您可以使用码型触发或状态触发找出感兴趣的事件,就可以直观地解码总线上的数据。然而,
21ic讯 泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test & Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系统大会”(
泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test & Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系统大会”(Embedded Systems Conference)举
全球领先的测试、测量和监测仪器提供商--泰克公司日前宣布,其 TLA7SA00系列逻辑分析仪在《Test & Measurement World》的2011年度评奖活动中荣获“最佳测试奖”(Best in Test Award)。 在2011年5月4日“嵌入式系统
随着DDR3和DDR4高速存储器走向前台,数据速率不断提高,专注于高性能服务器和嵌入式系统的工程师对可靠测量和深入分析的需求就变得尤其关键,安捷伦科技公司日前推出业界最快的U4154A逻辑分析仪以应对这种挑战。 安
安捷伦科技公司日前推出逻辑分析仪U4154A,该款新型逻辑分析仪具有业界领先的状态捕获速率:68 通道时为 4 Gb/s,136 通道时为 2.5 Gb/s;并且可以在业界最小的100 ps x 100 mV 眼张开度上稳定地捕获数据,为目前业界
21IC讯 泰克公司日前宣布,推出完整的 DDR2 协议调试和验证解决方案,基于屡获奖项的 TLA6000 系列逻辑分析仪。TLA6000 系列新选件包含了嵌入式工程师——即使并非DDR2专家——用来验证和调试设
21IC讯 安捷伦科技公司日前推出业界最快的逻辑分析仪。该款新型逻辑分析仪具有业界领先的状态捕获速率:68 通道时为 4 Gb/s,136 通道时为 2.5 Gb/s;并且可以在业界最小的100 ps x 100 mV 眼张开度上稳定地捕获数据
逻辑分析仪SignalTaPⅡ在系统级调试中的应用
泰克公司日前宣布,TLA6000系列逻辑分析仪被EDN杂志评为2010年度Hot100产品。此项殊荣旨在表彰为推动电子工业进步做出的贡献年度最佳产品。 本年度Hot100产品由EDN编委会评选出EDN编辑和读者公认为电子界最热门的新产
高速模数转换器(ADC)的参数定义和描述如表1所示。 表1 动态参数定义 测试方案中的线路板布局和硬件需求 为合理测试高速ADC的动态参数,最好选用制造商预先装配好的电路板,或是参考数据手册中推荐的线
全球领先的测试、测量与监测设备供应商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列逻辑分析仪,旨在为主流嵌入式系统设计者提供强大的高端调试与分析能力。TLA6000系列以更低的价位提供了以前仅在高性能TLA7000系列上才拥
泰克公司日前宣布推出TLA6000系列逻辑分析仪,旨在为主流嵌入式系统设计者提供强大的高端调试与分析能力。TLA6000系列以更低的价位提供了以前仅在高性能TLA7000系列上才拥有的性能和功能,相对便携式TLA5000系列型号
现代科技对系统的可靠性提出了更高的要求,而FPGA技术在电子系统中应用已经非常广泛,因此FPGA易测试性就变得很重要。要获得的FPGA内部信号十分有限、FPGA封装和印刷电路板(PCB)电气噪声,这一切使得设计调试和检验变
FPGA易测试性分析
摘 要 :本文介绍了可编程逻辑器件开发工具Quartus II 中SingalTap II 嵌入式逻辑分析器的使用,并给出一个具体的设计实例,详细介绍使用SignalTap II对FPGA调试的具体方法和步骤。 关键字 : SignalTap;硬件调试
为什么很多工程师创业失败?其根本原因不是资金,而是因为不了解市场,对市场缺乏一定前瞻性的认识,做出来的产品在市场上缺乏话语权。七年前,我义无反顾地决定先开发逻辑分析仪后开发示波器,原因何在?过去,我们
现身说法谈工程师如何培养对市场的前瞻性?