在人们的日常工作生活中,静电放电(ESD)现象可谓无处不在,瞬间产生的上升时间低于纳秒(ns)、持续时间可达数百纳秒且高达数十安培的电流,会对手机、笔记本电脑等电子系统造
随着技术的发展,移动电子设备已成为我们生活和文化的重要组成部分。平板电脑和只能手机触摸技术的应用,让我们能够与这些设备进行更多的互动。同时,它也构成了一个完整的
USB 3.0传输速率高达5Gbit/s,且电源汇流排也有高达900毫安培的最大输出电流,因此电路电气瞬变和过流故障的预防极为重要,设计人员必须慎选适当的热敏电阻(PTC)和静电放
在智能手机产品设计中,需要考虑ESD防护的主要有以下接口或组件: SIM 卡接口 USB 接口 耳机接口 MIC Receiver Speaker LCD 充电接口 Micro SD 接口 串口电池接口 按照不同接口的 ESD状况,划分防护等级。 防护等级一
手机、数码相机、MP3播放器和PDA等手持设备的设计工程师,正不断地面临着在降低整个系统成本的同时、又要以更小的体积提供更多功能的挑战。集成电路设计工程师通过在减少硅
在能被ESD直接击中的区域,每一个信号线附近都要布一条地线。I/O电路要尽可能靠近对应的连接器。对易受ESD影响的电路,应该放在靠近电路中心的区域,这样其他电路可以为它们提供一定的屏蔽作用。通常在接收端放置串联
自适应电缆均衡器是串行数字视频(SDV)广播和串行电信设备接收器前端的基本组成部分,它们还可以用于其它类型的有线通信系统。均衡器直接与传输线接口,恢复由电缆造成信号
来自人体、环境甚至电子设备内部的静电对于精密的半导体芯片会造成各种损伤,例如穿透元器件内部薄的绝缘层;损毁MOSFET和CMOS元器件的栅极;CMOS器件中的触发器锁死;短路反偏的PN结;短路正向偏置的PN结;熔化有源
来自人体、环境甚至电子设备内部的静电对于精密的半导体芯片会造成各种损伤,例如穿透元器件内部薄的绝缘层;损毁MOSFET和CMOS元器件的栅极;CMOS器件中的触发器锁死;短路反偏的PN结;短路正向偏置的PN结;熔化有源器件内
本文介绍了整车部分ESD 抗扰度测试。 测试方法: 按照放电方式分类可以分为直接接触放电和空气放电。 1、 放电试验点至少应包括乘客车厢内的成员能触及的全部电源开关和控制器件,欢迎
目前几乎所有的芯片组都有片上ESD保护。ESD电路放在芯片的外围和邻近I/O焊垫处,它用于在晶圆制造和后端装配流程中保护芯片组。在这些环境中,ESD可通过设备或工厂的生产线
静电,是大家都非常熟悉的一种自然现象,在我国的北方,人们在脱外套或毛衣的时候,经常会听到一些噼里啪啦的声音,有时带着火花,其实,这就是人体身上所携带的静电。静电会给人们的生活带来种种不便
布线是ESD防护的一个关键要素,合理的设计可以减少故障检查及返工所带来的不必要成本。在设计中,由于采用了瞬态电压抑止器(TVS)二极管来抑止因ESD放电产生的直接电荷注入,因此设计中更重要的是克服放电电流产生的电
通过 PCB的分层设计、恰当的布局布线和安装,可以实现 PCB的抗ESD设计,要达到期望的抗ESD能力,通常要通过几个测试-解决问题-重新测试这样的周期,每一个周期都可能至少影响到一块 PCB的设计。在 PCB设计过程中,通