Intel缩减下代安腾开发计划 未来前景不明
多传感器集成化在现阶段对于MEMS制造工艺依然是不小的挑战。近年来以陀螺仪、加速度计、压力传感器为代表的MEMS器件得到了快速发展,随着生活应用的不断丰富与提高,也需要更多的传感感测功能,多集成度的MEMS器件逐
北京时间1月25日晚间消息,爱尔兰规划机构An Bord Pleanála周四批准英特尔在爱尔兰建立14纳米芯片工厂。 该项目为期两年,计划投资40亿美元,主要用来生产下一代14纳米处理器。如果最终获得英特尔董事会
北京时间1月25日晚间消息,爱尔兰规划机构AnBordPleanála周四批准英特尔在爱尔兰建立14纳米芯片工厂。该项目为期两年,计划投资40亿美元,主要用来生产下一代14纳米处理器。如果最终获得英特尔董事会的批准,则将为
北京时间1月25日晚间消息,爱尔兰规划机构An Bord Pleanála周四批准英特尔在爱尔兰建立14纳米芯片工厂。该项目为期两年,计划投资40亿美元,主要用来生产下一代14纳米处理器。如果最终获得英特尔董事会的批准
新浪科技讯 香港时间1月25日晚间消息,爱尔兰规划机构An Bord Pleanala周四批准英特尔在爱尔兰建立14纳米芯片工厂。 该项目为期两年,计划投资40亿美元,主要用来生产下一代14纳米处理器。如果最终获得英特尔董事会
现今灯具市场有一些鱼目混珠的商家,它们通过降低素材,降低材料去仿造品牌灯具。以五金的部分举例,一个灯具的五金切割面有没有缝合面,还有电镀是不是有达到几个M质,是属于它的标准系数。这里的电镀M质就相当于刷
记者日前从中国科学院获悉,该院研发成功拥有自主知识产权的世界先进水平的22纳米集成电路制造工艺,已提交国内外专利申请1369件,其中国家知识产权局已受理中国专利申请945件。据介绍,该工艺可以使集成电路产品的功
经化学钢化的钢化玻璃产业随投射式电容触控面板产业的快速成长而同步成长。触控面板用钢化玻璃市场从2011年的5.684亿片至2012年成长了37.2%,达7.82亿片的规模,并且智能手机与平板电脑在2013年仍可持续维持两位数的
在新的一年里,中国内需消费市场的成长势头仍然被看好。对于未来的市场发展,预计随着中国GDP成长带动中国内需市场的扩张,电子产品中智能手机、平板电脑、超轻薄笔电、智能电视及智能电表的成长在2013年最值得关注。
12月26日消息,据国外媒体报道,苹果刚刚获得一项关于曲面玻璃制造工艺的专利,或将用于鼠标和未来的iTV。弧形屏幕设计帮助三星的Nexus S和Galaxy Nexus在竞争激烈的智能手机界中独树一帜。然而,三星并非唯一一家看
明导公司(Mentor Graphics Corp)今天宣布,用以支持三星14nm IC制造工艺的综合设计、制造与后流片实现(post tapeout)平台问世,这一平台能够为客户提供完整的从设计到晶圆的并行流程,使早期加工成为可能。完全可
明导公司(Mentor Graphics Corp)近日宣布,用以支持三星14nm IC制造工艺的综合设计、制造与后流片实现(post tapeout)平台问世,这一平台能够为客户提供完整的从设计到晶圆的并行流程,使早期加工成为可能。完全可互操
明导公司(Mentor Graphics Corp)今天宣布,用以支持三星14nm IC制造工艺的综合设计、制造与后流片实现(post tapeout)平台问世,这一平台能够为客户提供完整的从设计到晶圆的并行流程,使早期加工成为可能。完全可互操
近年来,我们使用的电脑、手机等速度更快、耗电更省、成本更低,这有赖于集成电路制造工艺的不断进步。记者近日从中国科学院微电子研究所获悉,该所集成电路先导工艺研发中心在22纳米技术代集成电路关键技术研发上取
近年来,我们使用的电脑、手机等速度更快、耗电更省、成本更低,这有赖于集成电路制造工艺的不断进步。记者近日从中国科学院微电子研究所获悉,该所集成电路先导工艺研发中心在22纳米技术代集成电路关键技术研发上取
据大陆新华社报导,大陆已在集成电路22纳米关键技术研发上获得进展,将有助于提升大陆自主生产制造质优价廉的集成电路产品的能力。 22纳米集成电路技术是全球正在研发的最新一代制造工艺。过去大陆的集成电
北京时间12月11日早间消息,英特尔今天宣布,采用最新一代22纳米制造工艺生产的芯片将于2013年量产,与高通等企业争夺快速发展的移动设备市场。作为全球第一大芯片制造商,英特尔主导着PC市场,但在看重能耗效率的移
和舰科技(苏州)有限公司坐落于驰名中外的苏州工业园区,是一家具有雄厚外资、制造尖端集成电路的一流晶圆专工企业。第一座8英寸晶圆厂于2003年5月正式投产,总投资超过12亿美元,最大月产量可达6万片。目前和舰是国内
人类自21世纪开始全面步入信息时代,从一定意义上讲,也就是进入了传感器时代。在现代控制系统中,传感器处于连接被测对象和测试系统的接口位置,成为信息采集的“窗口”,直接影响和决定着系统的功能。许多系统由