测试测量
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存储器接口设计-认识信号完整性的价值
存储器和其它组件之间的问题通常存在于这些器件之间的接口上，这些系统级的问题有时候是难以觉察的。本文详述了一种能够很容易地识别和解决这些出现在存储器接口上问题的测试工具，从而使你的设计更为鲁棒。过去，设
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采用多内核无线虚拟系统原型的系统级调试
在内核芯片制造前传统的验证与调试方法依赖于指令集仿真器(ISS)模型。不幸的是，ISS模型速度太慢，并且时序精度无法达到与系统硬件部分的RTL模型交互所需的要求。本文将提供一种采用虚拟系统原型实现系统级的多内核系
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测量磁盘驱动器柔性电路的互连阻抗测试
HDD中需精心设计的链路是位于前置放大器和读/写磁头组件之间的互连。该互连是确保HDD以多倍Gb/s的速率读写大量数据关键组件，但是，诸如交调失真、过冲和下冲等影响常会降低互连的性能，本文简要介绍如何利用时域反射
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ESD保护器件的主要特性参数分析及典型应用
ESD保护对高密度、小型化和具有复杂功能的电子设备而言具有重要意义。本文探讨了采用TVS二极管防止ESD时，最小击穿电压和击穿电流、最大反向漏电流和额定反向关断电压等参数对电路的影响及选择准则，并针对便携消费电
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用RTL测试平台验证事务级IP模型
在系统级芯片设计中，设计验证是一项十分重要的工作。传统的验证方法虽然比较简单，但对设计工程师要求很高，而且验证时间过长。本文介绍开放式设计和验证语言SystemC，通过该语言可实现RTL测试平台的复用，降低验证
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如何成功地完成ASIC原型验证
有很多原因使我们在芯片TAPOUT之前做原型验证，最终的目的都是尽可能高性价比的使芯片尽快推向市场。原型验证可以使我们找出其它的验证方法找不出的错误。基于原型的速度接近于现实速度，原型验证可以使我们尽早地来
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采用边界扫描法测试系统级芯片互连的信号完整性
互连中的信号完整性损耗对于数千兆赫兹高度复杂的SoC来说是非常关键的问题，因此经常在设计和测试中采用一些特殊的方法来解决这样的问题。本文介绍如何利用片上机制拓展JTAG标准使其包含互连的信号完整性测试，从而利
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应对百万门级系统级芯片验证挑战的可扩展解决方案
功能验证是电子设计人员目前面临的主要挑战，无论是设计团队还是验证团队，都将超过50%的时间用在纠错上，因此这一领域的技术进展将对缩短产品上市时间产生重大影响。本文探讨基于断言的技术和改进的纠错方法，以及为
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激光外差玻璃厚度测量系统检测电路的设计
摘要：为了检测激光外差玻璃厚度测量系统中的激光外差信号，介绍了激光外差玻璃测厚系统测量原理，通过对几种光电检测电路性能特征进行分析，设计出适合本系统光电检测电路，为激光外差检测提供了一种单元模块电路。
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复杂系统级芯片的软件/硬件协同验证
本文针对复杂系统级芯片的软件/硬件协同验证环境的多种方法进行了分析和比较, 并就各种方法在蓝牙系统级芯片设计中的应用为例对其进行了详细地阐述。随着半导体技术的飞速发展，单个硅片上的集成度越来越高，如何更快
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解决多总线系统级芯片测试问题的多域方法
多总线IC设计的迅速涌现将使测试过程更为复杂，对于基于多时钟域和高速总线的复杂IC设计，传统的ATE方法缺乏必要的多域支持和足够的性能以确保快速的 测试开发和高效能。本文提出在测试复杂的多域IC过程中，可以使用
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基于速度匹配软件的网络芯片仿真方法
对微处理器、图形芯片或复杂设计的仿真通常要求降低目标系统的速度，因为即使快速FPGA也可能跟不上高速目标系统的速度，本文介绍一种基于速度匹配软件的网络芯片仿真方法，并指出采用这种新技术需要注意的事项，值得
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TVS二极管在便携设备ESD保护中的应用
便携式设备的ESD保护十分重要，而TVS二 极管是一种十分有效的保护器件，与其它器件相比有其独特的优势，但在应用时应当针对不同的保护对象来选用器件，因为不同的端口可能受到的静电冲击有所不 同，不同器件要求的保
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测试嵌入式存储器的标准技术
随着SoC设计向存储器比例大于逻辑部分比例的方向发展，高质量的存储器测试策略显得尤为重要。存储器内置自测试(BIST)技术以合理的面积开销来对单个嵌入式存储器进行彻底的测试，可提高DPM、产品质量及良品率，因而正
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基于优化GDTW-SVM算法的联机手写识别
摘要：基于高斯动态时间规整核函数(Gaussian Dynamic Time Warping kernel)的支持向量机(GDTW-SVM)在联机手写识别中有较高的识别率，但是存在计算复杂度高的问题。结合联机手写识别中特征向量的特点，提出了通过引入
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