测试测量
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基于LM741的电容测量电路设计
由LM741等构成的电容测量电路如下图所示，该电路的测量原理是被测电容Cx充、放电而形成三角波，测量三角波的振荡周期就可知电容量的大小。由A1 可构成密勒积分电路，经A2构成的施密特电路形成正反馈而产生振荡。其振
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光纤传输通道测试方法介绍
计算机网络结构化综合布线系统(StructuredCablingSystem，SCS)是美国贝尔实验室专家们经过多年研究推出的基于星形拓朴结构的模块系统，也是目前局域网建设首选的系统。该系统具有实用、灵活、经济、可模块化和可扩充
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基于NEC单片机的漏电检测仪表的原理设计
随着电子仪器、电子设备的广泛使用，特别是家用电器的普及，家用电器的用电安全性问题不可忽视。泄漏电流、绝缘电阻、电气强度并称为电气安全性能中的3大电参数。其中泄漏电流，尤其是工作温度下的泄漏电流是1个最能
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基于C8051F005单片机的小电阻测试仪设计
在电路测试过程中常常会碰到由于忽略某些小电阻的影响引起实验数据与理论值之间存在较大误差，从而影响测试效果。例如电感器、变压器中往往存在铜电阻，地铁铁轨的电阻；由于其数值较小，一般的指针万用表无法测量出
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基于单片机的瓦斯气体浓度信息检测和报警设计
由于瓦斯气体本身的危险性和对人民生产生活造成的巨大危害，因此对瓦斯气体的检测和报警是一项必要的工作。瓦斯报警是指利用气体传感器技术，将检测到的瓦斯气体浓度和标准值进行比较，当高过一定浓度值时候进行相应
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测量射频器件噪声系数的三种方法
在无线通信系统中，噪声系数(NF)或者相对应的噪声因数(F)定义了噪声性能和对接收机灵敏度的贡献。本文详细阐述这个重要的参数及其不同的测量方法。 噪声因数和噪声系数 噪声系数有时也指噪声因数。两者简单的关
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智能便携式流感诊断系统简介
利用NI公司的Compact DAQ硬件系统，以及用于控制和数据分析的LabVIEW图形化系统设计软件，我们创建了一个小型且便携式的系统。" – Hsieh Tseng Ming James, Institute of Bioengineering and Nanotechnolog
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三位数字显示电容测试表电路介绍
该电容表电路由基准脉冲发生器、待测电容容量时间转换器、闸门控制器、译码器和显示器等部分组成.图2 中，集成电路IC1B 电阻R7~R9 和电容C3 构成基准脉冲发生器（实质上是一个无稳多谐振荡器），其输出的脉冲信号周期
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基于Multisim8的弱信号放大电路的仿真测试
1 引言 运算放大器(op-amp)简称运放， 因最初主要用于模拟量的数学运算而得名。它是一个高电压增益、高输入电阻和低输出电阻的直接耦合多级放大电路，也是最基本、最具代表性、应用最广泛的一种模拟集成电路。
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机载任务记录器中数据记录器组件的设计与实现
摘要：随着现代空战训练的转型，对机载任务记录系统所记录数据的多样性和全面性，记录数据的时间同步性和一致性有了很高的要求。为此，在新型机载任务记录仪设计研发中，采用统一的时间标准，同步记录多路任务数据，
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一种用于测试电容的电路
电解电容会随时间而泄漏。图1中的电路可以用来测试电容，决定它们是否值得使用。通过CREF/RREF比值可以设定对泄漏的限制条件。图中的值适用于所有电容的一般测试，从1nF的陶瓷电容，到1000μF的电解电容。电路中，
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测量并抑制存储器件中的软误差
软误差是半导体器件中无法有意再生的“干扰”(即数据丢失)。它是由那些不受设计师控制的外部因素所引起的，包括α粒子、宇宙射线和热中子。许多系统能够容忍一定程度的软误差。例如，如果为音频、视频
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集成在半导体测试中的重要性
在今年5月1日于美国加利福尼亚州伯克利（Berkeley）举行的2006年VLSI测试研讨会上，一个专家小组探究了可测试设计（DFT）的发展前景。我们的姊妹出版物EDN的执行主编Ron Wilson报道说，讨论的主要问题是单点工具或集
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最新测试技术在芯片良率提高中发挥新作用
在纳米设计时代，可制造性设计(DFM)方法在提高良率方面中已经占据了中心地位。为了实现更高的良率，人们在初始设计和制造过程本身采用了各种技术。由于采用了DFM规则，验证这些技术的有效性就至关重要。新的测试方法
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在线测试技术的现状和发展
1 引言在线测试曾作为组装后PCB测试的主导技术而占据市场绝对优势，但随着电子组装技术的发展，PCB的密度越来越高，测试点间距越来越小，测试点数量越来越多，这一切都给传统的测试技术带来挑战，加之各种新型测试技
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