测试测量
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基于小波神经网络的掌纹识别方法的研究
摘要：为提高掌纹图像识别率，首先利用手掌的几何轮廓对所采集到的掌纹图像进行预处理，进行分割得到感兴趣的区域。再利用小波变换对掌纹图像分别进行多层分解，进而提取小波特征。最后利用BP神经网络进行分类。通过
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基于TMSF240芯片的内部FLASH的一种自测试方法
摘要：飞控计算机作为飞行控制系统的核心控制处理单元，其可靠性要求是所有航空电子设备中最高的，用于飞控计算机的每一个元器件都必须经过严格的自测试。随着DSP越来越广泛应用于飞控系统，对于芯片内部FLASH的自测
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RC移相式振荡器振荡频率计算
摘要：RC移相式正弦波振荡器是一种常用的低频振荡器。文章基于电路发生正弦波振荡的平衡条件，推导出了电路的振荡频率和晶体管电流放大倍数的约束条件，分析方法和结论对于分析和使用该电路都有一定的参考价值。 关
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基于MIPS的普适农业监测系统设计
引言 普适计算又称普存计算、普及计算，它强调的是和环境融为一体的、无处不在的计算。在普适计算中，计算机从人们的视线里消失，转而使用各种嵌入式设备作为计算的核心，通过传感器和无线网络，用户可以在任何
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无向量测试是测试高速I/O的最佳方法
大批量半导体芯片制造商必须解决以下这道难题，即如何经济高效地测试嵌入在大型数字系统级芯片设计中的多个多通道高速I/O接口(如PCI Express、HyperTransport和 Infiniband)。虽然结合了闭环操作的片上内置自测试(BI
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用JTAG边界扫描测试电路板、BGA和互连
当第一批电路板样板放在硬件工程师桌面的时候，在测试时他会感到非常困扰。工程师耗费几个星期的时间设计电路图和布板，现在电路板做出来了，上面也安装好了元器件并拿在手上，现在必须确定它能否工作。工程师插上板
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ADSL集成电路关键参数的测试策略
目前全球ADSL用户数量在迅速增长，为了刺激ADSL的持续增长，市场需要低成本的ADSL集成电路，本文介绍如何利用先进的测试平台来对ADSL芯片的某些关键参数进行测试，从而使半导体制造商能够降低ADSL器件的测试成本。AD
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基于JTAG的互连测试技术
一、引言随着微电子技术进入超大规模集成电路（VLSI）时代，VLSI电路的高度复杂性及多层印制板、表面贴装（SMT）、圆片规模集成（WSI）和多芯片模块 （MCM）技术在电路系统中的运用，使得电路节点的物理可访问性正逐
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ATE开放式体系结构的硬件基础
开放式体系结构的概念在2002年的夏季已经是公开的秘密。鉴于降低测试成本的前景，媒体和ATE用户对它产生了极大的兴趣，也引起ATE供应商们 极大的关注。毫无疑问，一个设计良好的开放式体系结构系统会给用户带来令人信
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提升IC测试厂的产能利用率
前言IC测试厂最重要的两大指标就是测试品质与生产效率。测试品质的关键在于测试的再现性与可重复性，而生产要素除了合格率的因素外，最主要的就是测试设备的产能利用率。在质的方面，对于经过测试的每一颗IC，要求在
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减少DDR记忆体验负载的探测技术
DDR内存已成为系统DRAM的主要技术，而DDR系统的验证则是新的数字系统设计最具挑战性且费时的工作之一。逻辑分析仪是协助工程师验证这些系统的重要工具，但在成本与空间的限制下，逻辑分析仪探测技术变成了一个值得深
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采用电子束检测技术辅助晶体管开发
涉足尖端技术研究工作的芯片制造商正在把无数新材料和奇特的器件结构结合起来，用于65nm及更低节点的量产。同时他们发现，在这些研究上的努力生产的结果还包括目前必须着手解决各器件各个层上出现的越来越多的细微的
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探针卡简化测试和替换流程
存储器件持续不断的降价压力要求降低测试成本。很多公司通过同时测试更多的器件来提高吞吐率。过去的几年里，测试探针卡的发展允许平行测试更多的器件——同时可测的待测器件（DUT）数量从32到64到128不断
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5Gbps高速芯片测试技术
前言近年来，数据的大规模传输要求变得越来越普及。担任这些大量数据处理芯片的标准接口（Interface）基本上都采用的是高速差分串行传输方式。高速串行数据传送方式有以下的一些特征：● 数Gbps的传送数率● 由于是高
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光电跟踪检测调试仪的研制方案介绍
首先介绍了光电跟踪仪锁定机构检测调试仪研制的必要性和紧迫性，接下来介绍了方位锁定机构的特点及主要功能是完成对设备方位锁定机构状态的检测，能够在单板上实现对方位锁定机构加锁、解锁的控制，并能够判断锁定机
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