CMOS

CMOS到TTL的接口电路

一种低压高频CMOS电流乘法器的设计

摘要：提出了一种新颖的高频四象限电流乘法器电路，该乘法器使用了工作在三极管区的互补MOS器件，并且采用了饱和区MOS管的平方律特性。该电路采用0．35μm CMOS工艺，使用HSpice软件仿真。仿真结果显示，该乘法器电

教你笔记本电脑进水后如何处理

笔记本电脑不小心进水或流人其他液体(例如：∶茶水、可乐饮料)后，如果处理不当就会使造价不菲的电脑报废，或者要花费较高的维修费才能修复。怎样才能使损失减至最小呢?下面介绍进水后的处理方法。第一步：首先应立即

三星发布新款零快门滞后的800万摄像头[图]

三星最新发布一款零快门滞后的800万像素S5K3H7摄像头，采用新的1.4um的CMOS拍照传感器，更好的质量在光线较暗的背面照度（BSI）技术，就像iPhone4/4S相机和宏达电刚刚宣传的ImageChip，以及承诺零快门滞后和30fps的1

J-K触发器组成分频、计数电路及真值表分析

图A所示是用CMOS电路J-K触发器组成的除2加法计数线路，表A是其真值表。图B所示是除3加法计数线路，表B是其真值表。

D触发器应用之交替式显示控制电路

交替显示就是将静态显示变为动态显示，图中所示是用CMOS电路D触发器组成的交替显示的控制电路。

D触发器组成单稳态多谐振荡器电路

图中所示是用CMOS电路D触发器组成的单稳态多谐振荡器.因为D触发器除了具有传送D端数据的功能外,还具有R-S触发器的功能,根据这个特点,就可以组成可变脉宽单稳态多谐振荡器.

基于单一CMOS的电感测试仪的制作方案

这个测试仪的基础是一个皮尔兹CMOS缓冲振荡器（图一）。这种振荡器采用单一CMOS逆变偏频在其线性区域通过电阻R1 以形成一个高增益反相放大器。由于这个高增益，这个逆变器比一个非缓冲门消耗的功率低，甚至是很小的信

不买iPhone4S的11个理由

近几年，iPhone在全球很火。苹果公司已故掌门人乔布斯为此在全球名声大振。可是只要与其它品牌手机细心对比一下，不难发现，有N多理由不支持我们盲目购买iPhone手机的。尤其在中国。以下为我即兴撰写，仅供参考：1、

德国研发高速CMOS影像传感器，催生高质图像

由于排列在矩阵上的大像素不支持较高的读出速度，因此传统的“互补金属氧化物半导体”（CMOS）影像传感器不适合荧光灯等低光亮度应用。德国弗劳恩霍夫研究所研制出的一种新型光电组件能加速这一读出过程，

不买iPhone4S的11个理由

不买iPhone4S的11个理由

索尼悄然变身：收缩消费电子业务转向医疗设备

全球人群中癌症、肥胖和心脏疾病的发病率不断上升，这可能为索尼研发医疗设备业务带来契机，而索尼正计划借助半导体业务来帮助公司走出亏损境地。索尼是日本电视、相机和游戏机制造商，也是日本最大的消费电子出口商

图像传感器市场：CMOS优势扩大，CCD衰退

CMOS图像传感器继续扩大相对于CCD的优势，2011年CMOS出货份额为92%，2015年将升到97% 。据IHS iSuppli公司的消费平台市场追踪报告，由于被广泛用于手机和各类新兴产品领域，CMOS传感器2011年继续扩大在图像传感器市场

Javelin Semiconductor的CMOS 3G功率放大器获三星电子选用

全球首家高性能CMOS 3G功率放大器（PA）创新者Javelin Semiconductor今日宣布，三星电子选用Javelin JAV5501 Band I做为新款Galaxy智能手机的功率放大器。首先采用Javelin PA产品的三星手机为Galaxy Ace Plus，他是一

索尼新一代CMOS图像传感技术规格出炉

日本索尼公司在本周内在日本地区召开了新品发布会，正式宣布了一款全新格式的CMOS图像传感器技术规格正式出炉。据悉，该产品的研发目的主要在于提升提升移动电子设备中的拍摄性能，其成品可以应用在手机以及小型数码

CMOS RAMS的备用电源电路

光电打靶玩具电路原理简介

一个滑稽可笑的猫头鹰，当用光电枪击中其腹部的靶心时，它的两眼闪闪发光，且会发出悦耳的“嘟哩、嘟哩”的叫声。五秒钟后，它又会启动停止发光和叫声。本文介绍这个玩具的制作方法，它只用一块CMOS数字集

CMOS RAMS的备用电源电路

德国改进CMOS 读取速度提高百倍

新华社柏林1月3日电 数码摄影摄像中常用的CMOS图像传感器在光线不足的情况下往往表现不佳，德国弗劳恩霍夫应用研究促进协会最新推出的一款加装了特定光电元件的CMOS传感器则克服了这一问题。该研究机构2日发表声明说

基于CMOS探测器的射线检测设计应用

概述：以CMOS探测器为记录介质的数字化射线检测技术，检测精度高、温度适应性好、结构适应性强。CMOS射线扫描探测器探测单元排成线阵列，需要在检测时进行相对扫描运动，逐线采集并拼成完整的透照投影图像。介绍了检测工装设计，完成了探测器的固定、位置调节及实现与检测工件的相对运动。介绍了检测应用中的探测器配置与校准、透照方式选取、运动速度控制、检测参数优化、缺陷定量分析和图像存档管理等。应用结果表明，经过工艺优化，CMOS探测器能够实现大多数产品零部件的射线检测。最后分析了应用中存在的问题及后续研究方向。 Application of Direct Radiography Using CMOS X-ray Linear Array Detector SUN Chao-Ming, LI Qiang, WANG Zeng-Yong, LI Jian-Wen (Institute of Machinery Manufacturing Technology, CAEP, Mian yang 621900, China) Abstract: The digital radiography（DR） using complementary metal oxide silicon(CMOS) X-ray linear array detector as record media had advantages of higher spatial resolution, better temperature adaptability and flexible structure adaptability. During radiographic testing, relative movement of the detector and the work piece was necessary to collect each line of the scanned image, as the detecting units were lined in a row. So the testing equipments were designed to mount the detector, adjust the relative position and move the work piece according to its structure. The testing procedure comprising configuration and calibration of the detector, selection of the applicable scan mode, control of the scan speed, optimizing of the testing parameters, segmentation and quantification of defects and archiving and retrieval of the digital images were described. After optimizing the testing process, it showed that CMOS detector had capability to achieve better images and it could be used in radiographic testing widely. The benefit of using DR and some problems to be solved were talked in the end. Keywords: Digital radiography; CMOS X-ray linear array detector; Process optimization