全球晶圆代工业者正加紧展开FinFET布局。继格罗方德宣布将于2013年量产14奈米FinFET后,台湾晶圆双雄台积电与联电亦陆续公布FinFET制程发展蓝图与量产时程表,希冀借此一新技术,提供IC设计业者效能更佳的制造方案,
2012年IC设计业销售额将达到680.45亿元,同比增长8.98%。中国大陆IC设计业在全球产业中的地位得到进一步巩固,在美国和我国台湾地区之后继续保持第三位。在近日举办的2012中国集成电路设计业年会暨重庆集成电路创新发
2012年就要翻页了,每个产业的起伏或冷暖自知。我国IC设计业今年是有惊无险地渡过了“险滩”,成为其史上“最艰苦却又持续进步”的一年。在最近举办的2012中国集成电路设计业年会暨重庆集成电路创新发展高峰论坛上,
在一场近日于美国旧金山举行的FD-SOI (fully depleted silicon on insulator)技术研讨会上,产业组织SOI Consortium所展示的文件显示, FD-SOI 制程技术蓝图现在直接跳过了20奈米节点,直接往14奈米、接着是10奈米发
在一场近日于美国旧金山举行的FD-SOI(fullydepletedsilicononinsulator)技术研讨会上,产业组织SOIConsortium所展示的文件显示,FD-SOI制程技术蓝图现在直接跳过了20nm节点,直接往14nm、接着是10nm发展。根据SOICon
14奈米FD-SOI技术问世的时间点约与英特尔 (Intel)的14奈米FinFET相当,而两者的性能表现差不多,FD-SOI的成本则应该会比FinFET低得多。近日,在一场于美国旧金山举行的FD-SOI (fully depleted silicon on insulator)
在一场近日于美国旧金山举行的FD-SOI (fully depleted silicon on insulator)技术研讨会上,产业组织SOI Consortium所展示的文件显示, FD-SOI 制程技术蓝图现在直接跳过了20nm节点,直接往14nm、接着是10nm发展。根
在一场近日于美国旧金山举行的FD-SOI (fully depleted silicon on insulator)技术研讨会上,产业组织SOI Consortium所展示的文件显示, FD-SOI 制程技术蓝图现在直接跳过了20奈米节点,直接往14奈米、接着是10奈米发
在“SEMICONJapan2012”(2012年12月5~7日,幕张MESSE国际会展中心)开幕当天,台积电研发副总经理侯永清(CliffHou)登台发表了主题演讲,公布了该公司关于16~10nmFinFET工艺及CoWoS(chiponwaferonsubstrate,晶圆
2012年受欧债危机等影响,全球经济持续低迷,但是国内IC设计业仍保持了增长态势、从产业规模与市场开发角度看,中国IC设计业已经稳居全球集成电路设计业第三位,移动通信、存储器等领域的产品也从无到有,开始参与市
在“SEMICON Japan 2012”(2012年12月5~7日,幕张MESSE国际会展中心)开幕当天,台积电研发副总经理侯永清(Cliff Hou)登台发表了主题演讲,公布了该公司关于16~10nm FinFET工艺及CoWoS(chip on wafer on substra
AMD当年就屡屡被落后的产能所拖累,而在晶圆厂独立成GlobalFoundries之后,仍然摆脱不了工艺和产能跟不上的局面,多次导致新产品取消、推迟或者规格不达标,不过,GF依然在不断努力宣传美好的未来,现在又保证明年上
AMD当年就屡屡被落后的产能所拖累,而在晶圆厂独立成GlobalFoundries之后,仍然摆脱不了工艺和产能跟不上的局面,多次导致新产品取消、推迟或者规格不达标,不过,GF依然在不断努力宣传美好的未来,现在又保证明年上
Cadence近日宣布,运用IBM FinFET制程技术所设计的 ARM Cortex-M0 处理器14nm测试晶片已投入试产。成功投产14nmSOI FinFET 技术归功于三家厂商携手建立的生态体系,在以 FinFET 为基础的 14nm设计流程中,克服从设计
近日,Cadence宣布,运用IBM FinFET制程技术所设计的 ARM Cortex-M0 处理器14nm测试晶片已投入试产。成功投产14nmSOI FinFET 技术归功于三家厂商携手建立的生态体系,在以 FinFET 为基础的 14nm设计流程中,克服从设
ARM今(23)日举办年度技术研讨会,台积电 (2330)技术长孙元成(见附图)获邀出席,分享台积电于先进制程的布局。孙元成指出,台积电的20 奈米 SoC解决方案预计今年Q4即可试产(risk production),而相隔一年后、明年11
近日,Cadence宣布,运用IBM FinFET制程技术所设计的 ARM Cortex-M0 处理器14nm测试晶片已投入试产。成功投产14nmSOI FinFET 技术归功于三家厂商携手建立的生态体系,在以 FinFET 为基础的 14nm设计流程中,克服从
近日,Cadence宣布,运用IBM FinFET制程技术所设计的 ARM Cortex-M0 处理器14nm测试晶片已投入试产。成功投产14nmSOI FinFET 技术归功于三家厂商携手建立的生态体系,在以 FinFET 为基础的 14nm设计流程中,克服从设
测试设备大厂爱德万测试(Advantest, NYSE: ATE)看准3D IC技术发展的趋势,持续布局高阶测试方案,今宣布推出专为晶圆级测试所开发的多视角量测扫描式电子显微镜 (MVM-SEM)系统E3310。爱德万指出,该系统可提供高稳定
半导体产业正在转换到3D结构,进而导致关键薄膜层对高速原子层沉积(ALD)的需求日益升高。过去在平面元件中虽可使用几个 PVD 与 CVD 步骤,但就闸极堆叠的观点而言,过渡到 FinFET 元件将需要全方位的 ALD 解决方案